雷射數字干涉儀是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的科學儀器,於2010年11月30日啟用。
基本介紹
- 中文名:雷射數字干涉儀
- 產地:美國
- 學科領域:信息與系統科學相關工程與技術
- 啟用日期:2010年11月30日
雷射數字干涉儀是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的科學儀器,於2010年11月30日啟用。
雷射數字干涉儀是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的科學儀器,於2010年11月30日啟用。技術指標1、測量重複性:σ_PV≤0.005λ σ_rms≤0.001λ 2、最大允許誤差Δ_PV≤0.05λ Δ_rms...
雷射干涉儀,以雷射波長為已知長度,利用邁克耳遜干涉系統測量位移的通用長度測量。介紹 雷射具有高強度、高度方向性、空間同調性、窄頻寬和高度單色性等優點。目前常用來測量長度的干涉儀,主要是以麥可遜干涉儀為主,並以穩頻氦氖雷射為...
雷射干涉儀2是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的科學儀器,於2001年12月6日啟用。技術指標 1、測量重複性:σ_PV≤0.005λ σ_rms≤0.001λ 2、最大允許誤差Δ_PV≤0.05λ Δ_rms≤0.01λ。主要功能 光學參數測試...
雙頻雷射干涉儀是在單頻雷射干涉儀的基礎上發展的一種外差式干涉儀。和單頻雷射干涉儀一樣,雙頻雷射干涉儀也是一種以波長作為標準對被測長度進行度量的儀器。雙頻雷射干涉儀可以在恆溫,恆濕,防震的計量室內檢定量塊,量桿,刻尺和坐標...
非索型雷射干涉儀是一種用於預防醫學與公共衛生學領域的分析儀器,於2009年11月10日啟用。技術指標 1.使用氦氖雷射,工作波長為632.8nm,平面最大可測量口徑150mm。2.空間取樣1K*1K像素。數據採樣時間:低解析度(7幅數據圖像):93...
雷射干涉引力波天文台(LIGO)等諸多地面雷射干涉引力波探測器的基本原理就是通過麥可遜干涉儀來測量由引力波引起的雷射的光程變化,而在計畫中的雷射干涉空間天線(LISA)中,套用麥可遜干涉儀原理的基本構想也已經被提出。麥可遜干涉儀...
四軸快速超精密雙頻雷射干涉儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器,於2009年10月7日啟用。技術指標 輸出功率0.5mW,雷射頻率穩定度0.002ppm/h,分辨力0.62nm。主要功能 提供高穩定度高分辨力的雷射光源。
雷射相位都卜勒干涉儀是一種用於力學、物理學領域的分析儀器,於2014年12月26日啟用。技術指標 液滴尺寸測量範圍:0.3 至 7000 μm (球型) 精度 +/0.5 解析度 +/0.5 μm 速度測量範圍:100 至300 m/s 速度精度 to +/0....
雷射測距干涉儀 雷射測距干涉儀是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的科學儀器,於2016年11月15日啟用。技術指標 測量範圍:0-30m 示值誤差:±(0.1+0.22/1000)μm。主要功能 光學參數測試。
標定雷射干涉儀是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2016年12月23日啟用。技術指標 測量範圍:15米;測量分辨力:優於0.1nm;測角範圍:正負5度;角度分辨力:優於0.01角秒;直線度測量範圍:正負4mm;直線度測量分辨力:10nm。主...
24吋雷射平面干涉儀 24吋雷射平面干涉儀是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2014年2月14日啟用。技術指標 圓偏振光小於0.3,線偏振光小於0.9。主要功能 大口徑光學元件低頻面形檢測;光學材料均勻性檢測。
雷射干涉測量儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器,於2016年12月21日啟用。技術指標 標準量程: 0-40 m, 精度: ±0.5 ppm ,解析度:1 nm , 最大速率: 240 m/min (60 m/s);角度測量精度:0.2%;。主要...
高性能雷射面干涉儀是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2015年5月27日啟用。技術指標 測量口徑:4英寸調整架自由度:五軸;相機解析度:1024x1024;測量系統峰-谷值(PV)的重複性優於 l/300 波長, PV;測量系統均方根值(RMS)的...
雷射掃描干涉儀 雷射掃描干涉儀是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2000年01月09日啟用。技術指標 口徑100mm,檢測精度0.1λ。主要功能 檢測平面、球面光學元件面形。
雷射平面干涉儀是一種使用方便的光學精密計量儀器,主要用於精密測量光學平面度。雷射平面干涉儀工作時對防震要求一般。如配購相關的必要附屬檔案,可精密測量光學平板的微小楔角、光學材料折射率n的均勻性,光學鍍膜面或金屬塊規表面的平面度,...
JJG739-2005雷射干涉儀 《JJG739-2005雷射干涉儀》是2005年中國計量出版社出版的書籍,作者是中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會。本規程適用於雷射干涉儀的首次檢定和後續檢定。
《用於檢驗洛倫茲不變性的法布里-珀羅型雷射干涉儀》是依託中國科學院精密測量科學與技術創新研究院,由陳李生擔任項目負責人的專項基金項目。項目摘要 現代實驗物理研究的一項重要的任務是不斷地對物理學基礎理論進行高精度的實驗檢驗。其中與...
雷射跟蹤干涉儀 雷射跟蹤干涉儀是一種用於機械工程領域的物理性能測試儀器,於2016年1月1日啟用。技術指標 0.2μm+0.3μm/m。主要功能 用於工具機的空間校準。
雷射平面度移相干涉儀 雷射平面度移相干涉儀是一種用於工程與技術科學基礎學科、物理學領域的計量儀器,於2012年5月7日啟用。技術指標 測量精度1/20波長(PV)。主要功能 測量工件平面度等表面參數。
雷射全息干涉儀 雷射全息干涉儀(laser holographic interferometer)是2005年發布的航天科學技術名詞,出自《航天科學技術名詞》第一版。公布時間 2005年經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處 《航天科學技術名詞》第一版。
《干涉儀雷射成像技術研究》是一篇博士論文。作者賀聯合。文章介紹干涉儀雷射成像原理及實驗室中模擬實驗技術。副題名 外文題名 Study of interferomter laser maging 論文作者 賀聯合著 導師 劉盛綱,吳健教授指導 學科專業 光學 學位級別 ...
移相干涉儀是一種用於物理學領域的計量儀器,於2009年11月30日啟用。技術指標 雷射數字波面移相干涉儀1台,可以實現平面面形、球面面形檢測,面形測量精度優於λ/5峰谷值(波長632.8nm)。主要功能 用於光學鏡頭和光學元件的球面和...
斐索雷射干涉儀主機是一種用於物理學領域的計量儀器,於2018年1月3日啟用。技術指標 電源:220V?/?50Hz? 光源:He-Ne雷射器,λ=632.8nm?口徑:Φ60mm。主要功能 平面面形測量(非鍍膜表面、高反射率鍍膜表面*)???小角度平行平晶...
研究成果將為半導體雷射自混合干涉位移感測系統的實用化道路提供有益的參考。結題摘要 雷射自混合干涉儀以其固有的結構簡單、緊湊、易準直等特點而備受矚目。傳統的雷射自混合干涉儀以雷射波長作為測量的基準,但在自混合干涉中,反饋強度...
小型數字波面干涉儀是一種用於物理學領域的計量儀器,於2009年9月1日啟用。技術指標 25/λ 直線度測量精度0.1μm。主要功能 精密光學元件的表面面形和透射波陣面的檢測 可以測量位移、速度、振動、直線度、矩形平面度、旋轉角度、平行...
微型干涉儀容易與顯微鏡和MEMS匹配,監視和測量物體的變化。開發基於LabView的虛擬儀器。測量物體的光程和對比度的時間和空間變化,高精度地測量絕對距離和位移,並將雷射自混合干涉測量精度提高到1納米。這對於微小尺寸測量領域,對於微機械,...
雖然傳統雷射干涉儀信號的細分方法可達到至亞納米解析度,但由於半波長內的非線性,缺乏計量學意義。單諧振峰F-P干涉增量式位移測量很難達到毫米級的位移測量範圍,也無法實現跨尺度測量。本申請提出雙可調半導體雷射器FP干涉測量新方法。將...
《基於自調製雷射器和光纖干涉儀的速度測量技術》是依託中國科學院力學研究所,由楊乾鎖擔任項目負責人的面上項目。項目摘要 利用雷射束被運動物體反射後的都卜勒效應和雙光束干涉來測量運動物體表面的速度及加速度是上世紀七十年代發展起來...
雷射光強較大,不要讓雷射直接打到眼睛上;雷射電源紅黑插頭間電壓約1470伏,操作時一定要小心高壓。儀器安全:雷射器的電源插孔,紅對紅,黑對黑,不可接反;若雷射器接通電源3秒後,雷射管中無雷射輸出,則關掉電源,重新檢查是否...
該設備為曼格林相移式數字波面干涉儀,體積小,重量輕,模組化的設計理念,客戶可以根據自身的需求自由搭配檢測光路,既可用於生產車間,又可用於實驗室科研,還可用於線上檢測。獨立穩頻氦氖雷射器,帶獨立雷射耦合器,光強可調,熱源與...