小型數字波面干涉儀是一種用於物理學領域的計量儀器,於2009年9月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:小型數字波面干涉儀
- 產地:美國
- 學科領域:物理學
- 啟用日期:2009年9月1日
- 所屬類別:計量儀器 > 長度計量儀器 > 雙頻雷射干涉儀標準裝置
技術指標,主要功能,
技術指標
25/λ 直線度測量精度0.1μm。
主要功能
精密光學元件的表面面形和透射波陣面的檢測 可以測量位移、速度、振動、直線度、矩形平面度、旋轉角度、平行度。
小型數字波面干涉儀是一種用於物理學領域的計量儀器,於2009年9月1日啟用。
小型數字波面干涉儀是一種用於物理學領域的計量儀器,於2009年9月1日啟用。技術指標25/λ 直線度測量精度0.1μm。1主要功能精密光學元件的表面面形和透射波陣面的檢測 可以測量位移、速度、振動、直線度、矩形平面度、旋...
雷射數字干涉儀 雷射數字干涉儀是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的科學儀器,於2010年11月30日啟用。技術指標 1、測量重複性:σ_PV≤0.005λ σ_rms≤0.001λ 2、最大允許誤差Δ_PV≤0.05λ Δ_rms≤0.01λ。主要功能 光學參數測試。
移相干涉儀 移相干涉儀是一種用於物理學領域的計量儀器,於2009年11月30日啟用。技術指標 雷射數字波面移相干涉儀1台,可以實現平面面形、球面面形檢測,面形測量精度優於λ/5峰谷值(波長632.8nm)。主要功能 用於光學鏡頭和光學元件的球面和平面面形的高精度測量。
雷射干涉儀2 雷射干涉儀2是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的科學儀器,於2001年12月6日啟用。技術指標 1、測量重複性:σ_PV≤0.005λ σ_rms≤0.001λ 2、最大允許誤差Δ_PV≤0.05λ Δ_rms≤0.01λ。主要功能 光學參數測試。
形貌測量儀是一種用於動力與電氣工程領域的儀器,於2010年9月2日啟用。技術指標 測量範圍:小於等於100 mm 干涉儀感測器解析度: 1020×1024 像素 測量結果: PV重複精度:1/1000λ RMS 重複精度:1/3000λ 測量精度:1/20λ(校準面的精度1/20λ)。主要功能 該設備為曼格林相移式數字波面干涉儀,體積小,重量...