雷射測距干涉儀

雷射測距干涉儀是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的科學儀器，於2016年11月15日啟用。

基本介紹

• 中文名：雷射測距干涉儀
• 產地：英國
• 學科領域：信息與系統科學相關工程與技術
• 啟用日期：2016年11月15日

技術指標

測量範圍：0-30m 示值誤差：±（0.1+0.22/1000）μm。

主要功能

光學參數測試。