標定雷射干涉儀是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2016年12月23日啟用。
基本介紹
- 中文名:標定雷射干涉儀
- 產地:中國
- 學科領域:機械工程
- 啟用日期:2016年12月23日
- 所屬類別:計量儀器 > 長度計量儀器 > 雙頻雷射干涉儀
標定雷射干涉儀是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2016年12月23日啟用。
標定雷射干涉儀是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2016年12月23日啟用。技術指標 測量範圍:15米;測量分辨力:優於0.1nm;測角範圍:正負5度;角度分辨力:優於0.01角秒;直線度測量範圍:正負4mm;直線度測量分辨力:10nm。主...
雷射干涉儀引力波探測器的概念是前蘇聯科學家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的(Gertsenshtein和Pustovoit 1962)。 1969年美國科學家Weiss和Forward則分別在1969年即於麻省理工和休斯實驗室建造初步的試驗系統(Weiss 1972)。 截止今...
雷射干涉儀有單頻的和雙頻的兩種。單頻的是在20世紀60年代中期出現的﹐最初用於檢定基準線紋尺﹐後又用於在計量室中精密測長。雙頻雷射干涉儀是1970年出現的﹐它適宜在車間中使用。雷射干涉儀在極接近標準狀態(溫度為20℃﹑大氣壓力為...
目前LIGO雷射干涉儀實驗宣稱首次直接測量到了引力波 (LIGO collaboration 2016)。 LIGO可以認為是兩路光線的干涉儀, 而另外一類引力波探測實驗, 脈衝星測時陣列則可認為是多路光線干涉儀(Hellings 和Downs, 1983)。
JJG739-2005雷射干涉儀 《JJG739-2005雷射干涉儀》是2005年中國計量出版社出版的書籍,作者是中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會。本規程適用於雷射干涉儀的首次檢定和後續檢定。
麥可遜干涉儀的最著名套用即是它在麥可遜-莫雷實驗中對以太風觀測中所得到的零結果,這朵十九世紀末經典物理學天空中的烏云為狹義相對論的基本假設提供了實驗依據。除此之外,由於雷射干涉儀能夠非常精確地測量干涉中的光程差,在當今的...
動態雷射干涉儀是一種用於物理學領域的計量儀器,於2014年11月12日啟用。技術指標 1)口徑:Ф100mm;2)光源:HeNe雷射,IIIa級,波長:632.8nm;★3)設備測量原理要求:基於載波法測試原理Fizeau動態干涉系統,同一光路增加移相模式...
4英寸雷射干涉儀 4英寸雷射干涉儀是一種用於物理學領域的計量儀器,於2015年12月1日啟用。技術指標 4/632.8nm/>100m。主要功能 測量雷射波長。
目前檢測工具機精度最常用手段是使用雷射干涉儀,雷射干涉儀是單參數測量,每次安裝調整隻能測量一種誤差分量,而每個測量過程又需要使用不同類型的測量附屬檔案和重新調整干涉儀,使得檢測過程漫長,正常生產過程受到破壞,結果是使用者往往不對設備...
二年前JOBS用光動公司專利許可的雷射都卜勒干涉儀(LDDM)取代了傳統的雷射校準設備。結合三維體積定位誤差測量技術,或者結合也是光動公司發明的分步對角線測量技術,LDDM使JOBS很容易地做到精確的測量,並可以在生產運作發生危機前就察覺到...
非索型雷射干涉儀是一種用於預防醫學與公共衛生學領域的分析儀器,於2009年11月10日啟用。技術指標 1.使用氦氖雷射,工作波長為632.8nm,平面最大可測量口徑150mm。2.空間取樣1K*1K像素。數據採樣時間:低解析度(7幅數據圖像):93...
雙光束雷射干涉儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年11月28日啟用。技術指標 解析度: ≤1 pm(X晶向的石英);測量範圍:5pm- +/-25nm;形變Displacement/應變strain測量:頻率範圍50Hz到5kHz,內置電壓範圍100mV到10V;C-V...
干涉儀系統 干涉儀系統是一種用於物理學領域的計量儀器,於2012年10月05日啟用。技術指標 薄面測量精度達到波長的20分之一以上。主要功能 光學面型、均勻性等檢測。
動態干涉儀 動態干涉儀是一種用於電子與通信技術領域的計量儀器,於2012年10月11日啟用。技術指標 直徑12/變焦範圍1:6X。主要功能 直徑12/變焦範圍1:6X。
主要以光干涉原理為基礎,研究雷射在光學測量中各種物理量的測量原理和技術;研究高精度數字雷射干涉儀、雷射干涉測速儀和光學姿態測量儀等精密光學系統;研究衍射光學元件的設計理論、加工工藝和檢測方法;研究高光譜干涉成像的標定、光譜反演...