4英寸雷射干涉儀是一種用於物理學領域的計量儀器，於2015年12月1日啟用。
基本介紹
- 中文名：4英寸雷射干涉儀
- 產地：中國
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2015年12月1日
- 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
4/632.8nm/＞100m。
主要功能
測量雷射波長。
4英寸雷射干涉儀
相關詞條
- 4英寸雷射干涉儀
4英寸雷射干涉儀是一種用於物理學領域的計量儀器，於2015年12月1日啟用。技術指標4/632.8nm/＞100m。1主要功能測量雷射波長。1...
- 雷射干涉儀
雷射干涉儀，以雷射波長為已知長度，利用邁克耳遜干涉系統測量位移的通用長度測量。介紹 雷射具有高強度、高度方向性、空間同調性、窄頻寬和高度單色性等優點。目前常用來測量長度的干涉儀，主要是以麥可遜干涉儀為主，並以穩頻氦氖雷射為...
- 干涉儀
雷射干涉儀引力波探測器的概念是前蘇聯科學家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的（Gertsenshtein和Pustovoit 1962）。 1969年美國科學家Weiss和Forward則分別在1969年即於麻省理工和休斯實驗室建造初步的試驗系統（Weiss 1972）。 截止今...
- 雷射平面干涉儀
雷射平面干涉儀是一種使用方便的光學精密計量儀器，主要用於精密測量光學平面度。雷射平面干涉儀工作時對防震要求一般。如配購相關的必要附屬檔案，可精密測量光學平板的微小楔角、光學材料折射率n的均勻性，光學鍍膜面或金屬塊規表面的平面度，...
- JJG739-2005雷射干涉儀
JJG739-2005雷射干涉儀 《JJG739-2005雷射干涉儀》是2005年中國計量出版社出版的書籍，作者是中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會。本規程適用於雷射干涉儀的首次檢定和後續檢定。
- 麥可遜干涉儀
雷射干涉引力波天文台（LIGO）等諸多地面雷射干涉引力波探測器的基本原理就是通過麥可遜干涉儀來測量由引力波引起的雷射的光程變化，而在計畫中的雷射干涉空間天線（LISA）中，套用麥可遜干涉儀原理的基本構想也已經被提出。麥可遜干涉儀...
- 共焦干涉儀
共焦干涉儀是一種高解析度的光譜分析儀器。它特別適合分析雷射輸出模譜結構，監控單頻雷射輸出和探測鎖相效應，也可用來分析光譜線輪廓、超精細結構和同位素位移；它還可用作可調諧的窄帶通濾波器等。工作原理 共焦干涉儀最大透過率的...
- 雷射平面度移相干涉儀
雷射平面度移相干涉儀 雷射平面度移相干涉儀是一種用於工程與技術科學基礎學科、物理學領域的計量儀器，於2012年5月7日啟用。技術指標 測量精度1/20波長（PV）。主要功能 測量工件平面度等表面參數。
- 動態雷射干涉儀
動態雷射干涉儀是一種用於物理學領域的計量儀器，於2014年11月12日啟用。技術指標 （1）口徑：Ф100mm；（2）光源：HeNe雷射，IIIa級，波長：632.8nm；★（3）設備測量原理要求：基於載波法測試原理Fizeau動態干涉系統，同一光路增加...
- 雙光束干涉儀
若在光路中放置透鏡，可根據干涉圖樣了解由透鏡造成的波面畸變，從而評估透鏡的波像差。引力波測量 干涉儀也可以用於引力波探測(Saulson, 1994)。 雷射干涉儀引力波探測器的概念是前蘇聯科學家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的（...
- 單頻雷射干涉儀
單頻雷射干涉儀 從雷射器發出的光束，經擴束準直後由分光鏡分為兩路，並分別從固定反射鏡和可動反射鏡反射回來會合在分光鏡上而產生干涉條紋。儀器類型 雷射干涉儀有單頻的和雙頻的兩種 當可動反射鏡移動時，干涉條紋的光強變化由接受器中...
- 雷射全息干涉儀
雷射全息干涉儀 雷射全息干涉儀（laser holographic interferometer）是2005年發布的航天科學技術名詞，出自《航天科學技術名詞》第一版。公布時間 2005年經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處 《航天科學技術名詞》第一版。
- 標定雷射干涉儀
標定雷射干涉儀是一種用於機械工程領域的計量儀器，於2016年12月23日啟用。技術指標 測量範圍：15米；測量分辨力：優於0.1nm；測角範圍：正負5度；角度分辨力：優於0.01角秒；直線度測量範圍：正負4mm；直線度測量分辨力：10nm。主...
- 全光纖雷射干涉測速儀
全光纖雷射干涉測速儀是一種用於安全科學技術領域的計量儀器，於2010年11月25日啟用。技術指標 技術指標 測速範圍：100-3000m/s。主要功能 /主要功能 高速衝擊下靶板界面或自由面粒子速度、爆轟波爆轟參數測量。 特色 輕便可移動。四...
- 雙頻雷射干涉位移控制系統
雙頻雷射干涉儀具有如下優點：測量反射鏡與參考反射鏡行程縱向參考測量，可實現零死程測量；光學結構具有 4倍光學細分(λ/4)，在採用 Agilent 測量板卡後，可以實現亞納米級測量分辨力(0.15nm)、較大的測量範圍(大於10m)、較高的測量...
- 塞格納克干涉儀
雷射經分束器分為反射和透射兩部分。這兩束光均由反射鏡反射形成傳播方向相反的閉合光路，並在分束器上會合，送入光探測器，同時也有一部分返回到雷射器。在這種干涉儀中，兩光束的光程長度相等。根據雙束光干涉原理，在光電探測器上...
- 雙光束雷射干涉儀
雙光束雷射干涉儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年11月28日啟用。技術指標 解析度： ≤1 pm（X晶向的石英）；測量範圍：5pm- +/-25nm；形變Displacement/應變strain測量：頻率範圍50Hz到5kHz，內置電壓範圍100mV到10V；C-V...
- 非索型雷射干涉儀
非索型雷射干涉儀是一種用於預防醫學與公共衛生學領域的分析儀器，於2009年11月10日啟用。技術指標 1.使用氦氖雷射，工作波長為632.8nm，平面最大可測量口徑150mm。2.空間取樣1K*1K像素。數據採樣時間：低解析度（7幅數據圖像）：93...
- 邁克耳孫測星干涉儀
邁克耳孫也利用此干涉儀測得標準米尺的精確長度，並因此獲得了1907年的諾貝爾物理學獎。而在二十世紀六十年代之後，雷射這一高強度相干光源的發明使光學干涉測量技術得到了前所未有的廣泛套用，在各種精密測量中都能見到雷射干涉儀的身影。...
- 雷射干涉引力波天文台
報導指出，此次新發現由位於美國的雷射干涉儀引力波天文台（LIGO）和位於義大利的“室女座”（Virgo）天文台共同完成。組成結構 LIGO由兩個干涉儀組成，每一個都帶有兩個4千米長的臂並組成L型，它們分別位於相距3000千米的美國南海岸...
- interferometer
注（6） 干涉儀(Interferometer)：用以造成干涉現象的儀器。FTIR 最常使用 者為邁克生干涉儀，其原理為將單一光束分成兩個或兩個以上不同 路徑，使其產生光徑差 短語搭配 laser interferometer [雷射] 雷射干涉儀 ; 雷射干涉計 ; ...
