雷射跟蹤干涉儀

雷射跟蹤干涉儀是一種用於機械工程領域的物理性能測試儀器，於2016年1月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：雷射跟蹤干涉儀
• 產地：德國
• 學科領域：機械工程
• 啟用日期：2016年1月1日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 力學性能測試儀器 > 高溫高壓三軸儀

技術指標

0.2μm+0.3μm/m。

主要功能

用於工具機的空間校準。