APL雷射跟蹤儀是一種用於機械工程領域的物理性能測試儀器，於2010年12月21日啟用。
基本介紹
- 中文名：APL雷射跟蹤儀
- 產地：中國
- 學科領域：機械工程
- 啟用日期：2010年12月21日
- 所屬類別：物理性能測試儀器 > 光電測量儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
1．API 雷射跟蹤儀參數 測量範圍及參數： 水平轉角：640°（± 320°） 垂直轉角：+80°~ -60° 雷射跟蹤距離（IFMADM）：＞ 60 米 3 維空間測量精度（IFM）： 靜態：5ppm（5µ m/m） 動態：10ppm（10µ m/m） 坐標重複性：優於 2.5ppm 干涉儀精度（IFM）： 測量解析度：1 um 測量精度： 1 ppm 絕對測距精度（ADM）： 測量解析度： 1um 測量精度： 15µ m（10 米之內） 1.5 ppm （10 米之外） STS 感測器 俯仰角： ±55º 偏擺角： ±140º 滾擺角： ±30º 角解析度： 3arc-sec 重量： 1.4Kg I-probe 智慧型測頭 測量範圍： 大於 25 米 探頭長度： 50mm—700mm 俯仰角： ±35 º 偏擺角： ±35 º 滾擺角： ±35 º 精度： 0.1mm（10 米以內），10ppm（10 米以外）。
主要功能
API T3雷射跟蹤儀是工業測量系統中一種高精度的大尺寸測量儀器。它能對空間運動目標進行跟蹤並實時測量目標的空間三維坐標。具有高精度、高效率、實時跟蹤測量、安裝快捷、操作簡便等特點，適合於大尺寸工件配裝測量。
