24吋雷射平面干涉儀

24吋雷射平面干涉儀是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2014年2月14日啟用。

基本介紹

• 中文名：24吋雷射平面干涉儀
• 產地：美國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2014年2月14日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 光電測量儀器

技術指標

圓偏振光小於0.3，線偏振光小於0.9。

主要功能

大口徑光學元件低頻面形檢測；光學材料均勻性檢測。