四軸快速超精密雙頻雷射干涉儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器,於2009年10月7日啟用。
基本介紹
- 中文名:四軸快速超精密雙頻雷射干涉儀
- 產地:中國
- 學科領域:工程與技術科學基礎學科
- 啟用日期:2009年10月7日
- 所屬類別:計量儀器 > 長度計量儀器 > 雙頻雷射干涉儀
四軸快速超精密雙頻雷射干涉儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器,於2009年10月7日啟用。
四軸快速超精密雙頻雷射干涉儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器,於2009年10月7日啟用。技術指標輸出功率0.5mW,雷射頻率穩定度0.002ppm/h,分辨力0.62nm。1主要功能提供高穩定度高分辨力的...
雙頻雷射干涉儀是在單頻雷射干涉儀的基礎上發展的一種外差式干涉儀。和單頻雷射干涉儀一樣,雙頻雷射干涉儀也是一種以波長作為標準對被測長度進行度量的儀器。雙頻雷射干涉儀可以在恆溫,恆濕,防震的計量室內檢定量塊,量桿,刻尺和坐標測量機等。它既可以對幾十米的大量程進行精密測量,也可以對手錶零件等微小運動...
雷射干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來作線性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等測量工作,並可作為精密工具機或測量儀器的校正工作。英文名稱:laser interferometer(雷射干涉儀)分類 雷射干涉儀有單頻的和雙頻的兩種。單頻雷射干涉儀 從雷射器發出的光束,經擴束準直後由分光鏡分為兩路,並分別...
高精度雙頻雷射干涉測量系統 高精度雙頻雷射干涉測量系統是一種用於機械工程領域的科學儀器,於2012年6月14日啟用。技術指標 量程:380mm*380mm*150mm解析度:0.15mm;速度:500m/sX、y、Z線性位移測量實時反饋。主要功能 雷射干涉儀長行程、短行程精密位移測量。
雙頻雷射干涉儀具有如下優點:測量反射鏡與參考反射鏡行程縱向參考測量,可實現零死程測量;光學結構具有 4倍光學細分(λ/4),在採用 Agilent 測量板卡後,可以實現亞納米級測量分辨力(0.15nm)、較大的測量範圍(大於10m)、較高的測量速度較高(大於 1m/s)和採樣率(20MHz);同時,由於雙頻雷射干涉儀接收器測量的...
雷射測距干涉儀 雷射測距干涉儀是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的科學儀器,於2016年11月15日啟用。技術指標 測量範圍:0-30m 示值誤差:±(0.1+0.22/1000)μm。主要功能 光學參數測試。
雙頻雷射干涉儀與單頻雷射干涉儀的比較 以雷射波長為已知長度﹑利用邁克耳遜干涉系統測量位移的通用長度測量工具。雷射干涉儀有單頻的和雙頻的兩種。單頻的是在20世紀60年代中期出現的﹐最初用於檢定基準線紋尺﹐後又用於在計量室中精密測長。雙頻雷射干涉儀是1970年出現的﹐它適宜在車間中使用。雷射干涉儀在極接近標準...
雷射干涉測量系統 雷射干涉測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的計量儀器,於2008年03月10日啟用。技術指標 0.1ppm+/-2.5nm+/-2nm。主要功能 配套長度實物標準器熱脹係數測量裝置。
動態雷射干涉儀是一種用於物理學領域的計量儀器,於2014年11月12日啟用。技術指標 (1)口徑:Ф100mm;(2)光源:HeNe雷射,IIIa級,波長:632.8nm;★(3)設備測量原理要求:基於載波法測試原理Fizeau動態干涉系統,同一光路增加移相模式進行高精度計量檢測。同時具有機械移相測量和動態模式測量功能;★(4)RMS...
標定雷射干涉儀 標定雷射干涉儀是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2016年12月23日啟用。技術指標 測量範圍:15米;測量分辨力:優於0.1nm;測角範圍:正負5度;角度分辨力:優於0.01角秒;直線度測量範圍:正負4mm;直線度測量分辨力:10nm。主要功能 測量位移,角度變化和直線度。
2.1雙光束干涉測量29 2.1.1雙光束干涉的基本原理29 2.1.2干涉測長原理30 2.1.3干涉儀的組成31 2.1.4干涉條紋對比度35 2.1.5雙光束干涉的套用36 2.2雙頻雷射干涉測量43 2.2.1雙頻雷射干涉的原理43 2.2.2塞曼雙頻雷射44 2.2.3聲光調製雙頻雷射45 2.2.4雙頻雷射干涉儀的套用46 2.3雷射移相...