雷射干涉測量系統

雷射干涉測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的計量儀器，於2008年03月10日啟用。

基本介紹

• 中文名：雷射干涉測量系統
• 產地：英國
• 學科領域：工程與技術科學基礎學科、材料科學
• 啟用日期：2008年03月10日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 雙頻雷射干涉儀

技術指標

0.1ppm+/-2.5nm+/-2nm。

主要功能

配套長度實物標準器熱脹係數測量裝置。