雷射干涉測試系統

雷射干涉測試系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年12月28日啟用。

基本介紹

• 中文名：雷射干涉測試系統
• 產地：美國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2016年12月28日
• 所屬類別：分析儀器

技術指標

工作溫度:0℃到40℃ ； 真空波長:632.991354nm ； 波長穩定性:短時間（1h）±0.002ppm;長時間（壽命期）±0.02ppm ；壽命期:平均無故障時間≥50000h ；最大輸出功率1mW ；≥7MHz ；光束直徑9mm。

主要功能

雷射干涉測試。