雷射干涉儀系統是一種用於機械工程領域的雷射器,於2013年5月9日啟用。
基本介紹
- 中文名:雷射干涉儀系統
- 產地:英國
- 學科領域:機械工程
- 啟用日期:2013年5月9日
- 所屬類別:雷射器 > 雷射器 > 雷射器
雷射干涉儀系統是一種用於機械工程領域的雷射器,於2013年5月9日啟用。
雷射干涉儀系統是一種用於機械工程領域的雷射器,於2013年5月9日啟用。技術指標測量分辨力精確到0.1mm。1主要功能精密機械運動精度測量。1...
雷射干涉儀,以雷射波長為已知長度,利用邁克耳遜干涉系統測量位移的通用長度測量。介紹 雷射具有高強度、高度方向性、空間同調性、窄頻寬和高度單色性等優點。目前常用來測量長度的干涉儀,主要是以麥可遜干涉儀為主,並以穩頻氦氖雷射為...
雷射干涉測試系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年12月28日啟用。技術指標 工作溫度:0℃到40℃ ; 真空波長:632.991354nm ; 波長穩定性:短時間(1h)±0.002ppm;長時間(壽命期)±0.02ppm ;壽命期:平均無故障時間...
這種無規則的變化較難通過觸發電平的自動調整來補償,因而限制了單頻干涉儀的套用範圍,只有設法用交流測量系統代替直流測量系統才能從根本上克服單頻雷射干涉儀的這一弱點。而雙頻雷射干涉儀正好克服了這一弱點,它是在單頻雷射干涉儀的基礎...
雷射干涉測量系統 雷射干涉測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的計量儀器,於2008年03月10日啟用。技術指標 0.1ppm+/-2.5nm+/-2nm。主要功能 配套長度實物標準器熱脹係數測量裝置。
雷射干涉儀引力波探測器的概念是前蘇聯科學家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的(Gertsenshtein和Pustovoit 1962)。 1969年美國科學家Weiss和Forward則分別在1969年即於麻省理工和休斯實驗室建造初步的試驗系統(Weiss 1972)。 截止今...
隨著人們對偏振光研究的深入,利用不同頻率光束的干涉原理即拍頻原理可製作新的位移控制系統,而且其精度能得到極大提高。其主要原理如下:1:雷射器發出頻率為f1、f2的左旋和右旋圓偏振光設為E1和E2。2:光束經過1/4玻片後兩束偏振光變成...
干涉儀系統 干涉儀系統是一種用於物理學領域的計量儀器,於2012年10月05日啟用。技術指標 薄面測量精度達到波長的20分之一以上。主要功能 光學面型、均勻性等檢測。
雷射干涉儀引力波探測器的概念是前蘇聯科學家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的(Gertsenshtein和Pustovoit 1962)。 1969年美國科學家Weiss和Forward則分別在1969年即於麻省理工和休斯實驗室建造初步的試驗系統(Weiss 1972)。 截止今...
光纖干涉儀,光學現象干涉的儀器。干涉現象是光學的基本現象,利用光纖實現光的干涉,是光干涉現象的重要套用。由於光纖取代透鏡系統構成的。光路具有柔軟、形狀可隨意變化、傳輸距離遠、可適用於各種有強電磁干擾、易燃易爆等惡劣環境,從而...
麥可遜干涉儀的最著名套用即是它在麥可遜-莫雷實驗中對以太風觀測中所得到的零結果,這朵十九世紀末經典物理學天空中的烏云為狹義相對論的基本假設提供了實驗依據。除此之外,由於雷射干涉儀能夠非常精確地測量干涉中的光程差,在當今的...
雙光束雷射干涉儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年11月28日啟用。技術指標 解析度: ≤1 pm(X晶向的石英);測量範圍:5pm- +/-25nm;形變Displacement/應變strain測量:頻率範圍50Hz到5kHz,內置電壓範圍100mV到10V;C-V...
斐索型雷射干涉儀是一種用於電子與通信技術領域的物理性能測試儀器,於2016年12月22日啟用。技術指標 1.測量光束直徑: ≥4″(102mm) 2.對準視場範圍FOV : ≥±2°3.成像解析度:640×480像素或以上4.光源相干長度:>100m5.雷射...
ZIGO雷射干涉儀 ZIGO雷射干涉儀是一種用於物理學領域的科學儀器,於2009年7月3日啟用。技術指標 光源:He-Ne @632.8 nm CCD : 640*480@75Hz。主要功能 角錐參數測量。
非索型雷射干涉儀是一種用於預防醫學與公共衛生學領域的分析儀器,於2009年11月10日啟用。技術指標 1.使用氦氖雷射,工作波長為632.8nm,平面最大可測量口徑150mm。2.空間取樣1K*1K像素。數據採樣時間:低解析度(7幅數據圖像):93...
雷射測距干涉儀 雷射測距干涉儀是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的科學儀器,於2016年11月15日啟用。技術指標 測量範圍:0-30m 示值誤差:±(0.1+0.22/1000)μm。主要功能 光學參數測試。
雷射掃描干涉儀 雷射掃描干涉儀是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2000年01月09日啟用。技術指標 口徑100mm,檢測精度0.1λ。主要功能 檢測平面、球面光學元件面形。
1958年,法國人柯勒斯(Connes)根據多光束的干涉原理,提出了一種共焦球面干涉儀。到了二十世紀60年代,這種共焦系統廣泛用作雷射器諧振腔。同時由於雷射科學的發展,迫切需要對雷射器的輸出光譜特性進行分析,於是在共焦球面干涉儀的基礎...
雷射干涉儀2是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的科學儀器,於2001年12月6日啟用。技術指標 1、測量重複性:σ_PV≤0.005λ σ_rms≤0.001λ 2、最大允許誤差Δ_PV≤0.05λ Δ_rms≤0.01λ。主要功能 光學參數測試...
中文名 六維雷射干涉儀 產地 美國 學科領域 機械工程 啟用日期 2011年2月1日 所屬類別 物理性能測試儀器 目錄 1技術指標 2主要功能 技術指標 播報 編輯 線性精度:0.5ppm ,測量範圍:40米,直線度精度:(1+0.2/m)um ,最大測量範圍...
雷射跟蹤干涉儀 雷射跟蹤干涉儀是一種用於機械工程領域的物理性能測試儀器,於2016年1月1日啟用。技術指標 0.2μm+0.3μm/m。主要功能 用於工具機的空間校準。
斐索雷射干涉儀主機是一種用於物理學領域的計量儀器,於2018年1月3日啟用。技術指標 電源:220V?/?50Hz? 光源:He-Ne雷射器,λ=632.8nm?口徑:Φ60mm。主要功能 平面面形測量(非鍍膜表面、高反射率鍍膜表面*)???小角度平行平晶...
高性能雷射面干涉儀是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2015年5月27日啟用。技術指標 測量口徑:4英寸調整架自由度:五軸;相機解析度:1024x1024;測量系統峰-谷值(PV)的重複性優於 l/300 波長, PV;測量系統均方根值(RMS)的...
6寸雷射干涉儀是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的科學儀器,於2012年12月19日啟用。技術指標 1、測量重複性:σ_PV≤0.005λ σ_rms≤0.001λ 2、最大允許誤差Δ_PV≤0.05λ Δ_rms≤0.01λ。主要功能 光學參數...
雷射全息干涉儀 雷射全息干涉儀(laser holographic interferometer)是2005年發布的航天科學技術名詞,出自《航天科學技術名詞》第一版。公布時間 2005年經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處 《航天科學技術名詞》第一版。
雷射干涉測量儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器,於2016年12月21日啟用。技術指標 標準量程: 0-40 m, 精度: ±0.5 ppm ,解析度:1 nm , 最大速率: 240 m/min (60 m/s);角度測量精度:0.2%;。主要...
立式6英寸雷射干涉儀是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的雷射器,於2016年6月5日啟用。技術指標 (1)測量重複性:σ_PV≤0.005λ σ_rms≤0.001λ(2)最大允許誤差Δ_PV≤0.05λ Δ_rms≤0.01λ。主要功能 用於...