斐索型雷射干涉儀

斐索型雷射干涉儀是一種用於電子與通信技術領域的物理性能測試儀器，於2016年12月22日啟用。

基本介紹

• 中文名：斐索型雷射干涉儀
• 產地：中國
• 學科領域：電子與通信技術
• 啟用日期：2016年12月22日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 光電測量儀器

技術指標

1.測量光束直徑: ≥4″（102mm） 2.對準視場範圍FOV : ≥±2°3.成像解析度：640×480像素或以上4.光源相干長度：＞100m5.雷射光源：氦氖雷射6.幀速：gt。

主要功能

用於視覺檢測技術領域，用於平面或球面的快速形貌測量。