六維雷射干涉儀是一種用於機械工程領域的物理性能測試儀器,於2011年2月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:六維雷射干涉儀
- 產地:美國
- 學科領域:機械工程
- 啟用日期:2011年2月1日
- 所屬類別:物理性能測試儀器
六維雷射干涉儀是一種用於機械工程領域的物理性能測試儀器,於2011年2月1日啟用。
英文名稱:laser interferometer(雷射干涉儀)分類 雷射干涉儀有單頻的和雙頻的兩種。單頻雷射干涉儀 從雷射器發出的光束,經擴束準直後由分光鏡分為兩路,並分別從固定反射鏡和可動反射鏡反射回來會合在分光鏡上而產生干涉條紋。當可動反射...
雷射干涉儀引力波探測器的概念是前蘇聯科學家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的(Gertsenshtein和Pustovoit 1962)。 1969年美國科學家Weiss和Forward則分別在1969年即於麻省理工和休斯實驗室建造初步的試驗系統(Weiss 1972)。 截止今...
zygo雷射干涉儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2009年12月18日啟用。技術指標 640 x 480 CCD;光束直徑4″(102 mm);解析度 λ/8,000;條紋解析度3180條紋;氦-氖雷射波長632.8 nm;相干長度>100 m;樣件尺寸範圍254 x ...
動態雷射干涉儀是一種用於物理學領域的計量儀器,於2014年11月12日啟用。技術指標 1)口徑:Ф100mm;2)光源:HeNe雷射,IIIa級,波長:632.8nm;★3)設備測量原理要求:基於載波法測試原理Fizeau動態干涉系統,同一光路增加移相模式...
斐索型雷射干涉儀是一種用於電子與通信技術領域的物理性能測試儀器,於2016年12月22日啟用。技術指標 1.測量光束直徑: ≥4″(102mm) 2.對準視場範圍FOV : ≥±2°3.成像解析度:640×480像素或以上4.光源相干長度:>100m5.雷射...
非索型雷射干涉儀是一種用於預防醫學與公共衛生學領域的分析儀器,於2009年11月10日啟用。技術指標 1.使用氦氖雷射,工作波長為632.8nm,平面最大可測量口徑150mm。2.空間取樣1K*1K像素。數據採樣時間:低解析度(7幅數據圖像):93...
單頻雷射干涉儀 從雷射器發出的光束,經擴束準直後由分光鏡分為兩路,並分別從固定反射鏡和可動反射鏡反射回來會合在分光鏡上而產生干涉條紋。儀器類型 雷射干涉儀有單頻的和雙頻的兩種 當可動反射鏡移動時,干涉條紋的光強變化由接受器中...
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4英寸雷射干涉儀 4英寸雷射干涉儀是一種用於物理學領域的計量儀器,於2015年12月1日啟用。技術指標 4/632.8nm/>100m。主要功能 測量雷射波長。
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