雷射干涉儀基本系統

雷射干涉儀基本系統是一種用於機械工程領域的計量儀器，於2014年12月16日啟用。

基本介紹

• 中文名：雷射干涉儀基本系統
• 產地：義大利
• 學科領域：機械工程
• 啟用日期：2014年12月16日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 雙頻雷射干涉儀

技術指標

精度和動態性能 精確穩定的雷射源和準確的環境補償，保證了±0.5 ppm的線性測量精度。讀數以50 kHZ頻率讀取，高線性測量速度可達4 m/s，即使在高速度下線性解析度仍可達1 nm。所有測量選項（不只是線性）均採用干涉法測量，使您對記錄數據的精度有信心。

主要功能

尺寸、公差測量。