利用雷射單色性和方向性好的特性測量長度的長度計量技術。常用的方法有干涉法、掃描法、光強法和準直法等。
干涉法
掃描法
準直法
除上述方法外,還可利用光學衍射現象測量細絲和小孔(通孔),利用都卜勒效應(見雷射干涉儀)測量直線位移和角位移等。
利用雷射單色性和方向性好的特性測量長度的長度計量技術。常用的方法有干涉法、掃描法、光強法和準直法等。
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