雷射檢測技術套用十分廣泛，如雷射干涉測長、雷射測距、雷射測振、雷射測速、雷射散斑測量、雷射準直、雷射全息、雷射掃描、雷射跟蹤、雷射光譜分析等都顯示了雷射測量的巨大優越性。雷射外差干涉是納米測量的重要技術。雷射測量是一種非接觸式測量，不影響被測物體的運動，精度高、測量範圍大、檢測時間短，具有很高的空間解析度。
基本介紹
- 中文名：雷射檢測技術
- 外文名：Laser detection technology
- 套用：雷射干涉測長、雷射測距等
- 原理：雷射測距原理、雷射測位移原理
- 特點：非接觸式測量
- 優勢：精度高、測量範圍大、檢測時間短
測距原理,測位移原理,
測距原理
先由雷射二極體對準目標發射雷射脈衝。經目標反射後雷射向各方向散射。部分散射光返回到感測器接收器，被光學系統接收後成像到雪崩光電二極體上。雪崩光電二極體是一種內部具有放大功能的光學感測器，因此它能檢測極其微弱的光信號。記錄並處理從光脈衝發出到返回被接收所經歷的時間，即可測定目標距離。 雷射感測器必須極其精確地測定傳輸時間，因為光速太快。如，光速約為3X10^8m/s，要想使解析度達到1mm，則測距感測器的電子電路必須能分辨出以下極短的時間： 0.001m(3X10^8m/s)=3ps 要分辨出3ps的時間，這是對電子技術提出的過高要求，實現起來造價太高。但是如今的雷射感測器巧妙地避開了這一障礙，利用一種簡單的統計學原理，即平均法則實現了1mm的解析度，並且能保證回響速度。遠距離雷射測距儀在工作時向目標射出一束很細的雷射，由光電元件接收目標反射的雷射束，計時器測定雷射束從發射到接收的時間，計算出從觀測者到目標的距離；LED白光測速儀成像在儀表內部積體電路晶片CCD上，CCD晶片性能穩定，工作壽命長，且基本不受工作環境和溫度的影響。因此，LED白光測速儀測量精度有保證，性能穩定可靠。
測位移原理
雷射發射器通過鏡頭將可見紅色雷射射向被測物體表面，經物體反射的雷射通過接收器鏡頭，被內部的CCD線性相機接收，根據不同的距離，CCD線性相機可以在不同的角度下“看見”這個光點。根據這個角度及已知的雷射和相機之間的距離，數位訊號處理器就能計算出感測器和被測物體之間的距離。 同時，光束在接收元件的位置通過模擬和數字電路處理，並通過微處理器分析，計算出相應的輸出值，並在用戶設定的模擬量視窗內，按比例輸出標準數據信號。如果使用開關量輸出，則在設定的視窗內導通，視窗之外截止。另外，模擬量與開關量輸出可獨立設定檢測視窗。
