基本介紹
- 中文名:雷射參數測量
- 外文名:Measurement of laser parameters
- 拼音:jiguangcanshuceliang
- 類型:雷射技術
雷射測量的特性
雷射的特性
雷射功率與能量測量
雷射功率計和雷射能量計
雷射參數測量方法
雷射頻譜特性參數測量
雷射波長測量需要各級標準波長譜線輻射源。一般可使用各種元素燈。某些分子飽和吸收譜線穩定的高穩雷射,其波長值的相對不確定度小於1×10-10,可作為精密測量的標準。在日常實驗中,可用某些原子、分子的飽和吸收譜或光電流譜的譜線波長值來標定。後者方法比較簡便,標定精度可達0.001埃。由於光速已知,波長測量也可通過光頻測量來實現,但這需要有利用微波頻標來測量光頻的頻率測量鏈。
雷射頻率穩定性是指連續運轉的雷射,在一定時間間隔內,頻率起伏的方差與該時間內的平均頻率之比。頻率穩定性通常用拍頻方法測量。譜線寬度測量須使用高解析度的光譜儀和干涉儀。雷射的相干性也可用干涉技術測量。
雷射空域特性參數測量
光束直徑的定義是,在確定的光束橫截面上,雷射強度降至中心值的1/2(或1/e、1/e2)處的環的直徑。雷射發散角則是光束直徑對雷射器輸出窗所張的角。因此,它們的基本測量方法是,用配有狹縫或光闌的能量或功率探測器沿光束橫截面掃描,或者把陣列探測元件直接對準光束測量,藉助電視錄像掃描技術獲得圖形和數學顯示。測量光束直徑、遠近場花樣和發散角的一種簡便而粗略的方法,是將已感光的相紙、螢光材料或像增強器的靶面置於光束的適當部位,取得光束的形狀,並對它進行分析和測量。當雷射能量或功率足夠強時,在雷射輸出的方向上放置一個長焦距透鏡,觀測其焦平面上靶材燒蝕的孔徑,就可以測出發散角