雷射參數測量

雷射參數測量

雷射參數測量是雷射技術中的一個重要方面,也是雷射器研究生產套用中的一項基礎工作測量方式可按雷射的時間空間頻譜中的分布特性來分為三種測量方法:雷射時域特性參數測量、雷射空域特性參數測量、雷射頻譜特性參數測量。

基本介紹

  • 中文名:雷射參數測量
  • 外文名:Measurement of laser parameters
  • 拼音:jiguangcanshuceliang
  • 類型:雷射技術
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雷射測量的特性

雷射的特性

雷射的特性,包括它在時間、空間和頻譜中的分布特性,由各種雷射參數表征。雷射參數測量是雷射技術中的一個重要方面,也是雷射器的研究、生產和套用中的一項基礎工作。

雷射功率與能量測量

雷射功率與能量測量主要是連續雷射功率和脈衝雷射能量的測量。這些參數表明雷射的有無和強弱。其他雷射參數的測量,大多與功率和能量的測量有關。對於脈衝雷射,常用能量計直接測量單個或數個脈衝的能量,也可用快回響功率計測量脈衝瞬時功率並對時間積分而求出能量。對於連續雷射,可以直接用功率計測量雷射功率,也可以用測量一定時間內的能量的方法求出平均功率。

雷射功率計和雷射能量計

雷射功率計雷射能量計的接收器通常有光電型和光熱型兩種,儀器的示值與所測雷射功率或能量成線性關係。光電型的靈敏度高、回響快;光熱型的光譜回響曲線平坦、穩定性好。不同種類的雷射需要用不同的儀器測量。大功率雷射測量常用流水式量熱計,調Q雷射能量測量常用體吸收型和多次反射式量熱計。為了避免強雷射的損害,雷射功率和能量測試系統配有各種形式的衰減器

雷射參數測量方法

雷射頻譜特性參數測量

雷射頻譜特性參數測量包括波長譜線寬度輪廓頻率穩定性和相干性參數的測量。雷射波長測量使用光譜儀干涉儀。大多數雷射波長計的主體部分是干涉儀。也可用差拍外差的方法測量雷射波長。
雷射波長測量需要各級標準波長譜線輻射源。一般可使用各種元素燈。某些分子飽和吸收譜線穩定的高穩雷射,其波長值的相對不確定度小於1×10-10,可作為精密測量的標準。在日常實驗中,可用某些原子分子的飽和吸收譜或光電流譜的譜線波長值來標定。後者方法比較簡便,標定精度可達0.001埃。由於光速已知,波長測量也可通過光頻測量來實現,但這需要有利用微波頻標來測量光頻的頻率測量鏈。
雷射頻率穩定性是指連續運轉的雷射,在一定時間間隔內,頻率起伏的方差與該時間內的平均頻率之比。頻率穩定性通常用拍頻方法測量。譜線寬度測量須使用高解析度的光譜儀和干涉儀。雷射的相干性也可用干涉技術測量。

雷射空域特性參數測量

雷射空域特性參數測量包括測量雷射光束直徑發散角、橢圓度、橫模式、近場遠場花樣等。這些參數是通過測量雷射功率或能量的相對空間分布得到的。
光束直徑的定義是,在確定的光束橫截面上,雷射強度降至中心值的1/2(或1/e、1/e2)處的環的直徑。雷射發散角則是光束直徑對雷射器輸出窗所張的角。因此,它們的基本測量方法是,用配有狹縫光闌的能量或功率探測器沿光束橫截面掃描,或者把陣列探測元件直接對準光束測量,藉助電視錄像掃描技術獲得圖形數學顯示。測量光束直徑、遠近場花樣和發散角的一種簡便粗略的方法,是將已感光的相紙螢光材料或像增強器的靶面置於光束的適當部位,取得光束的形狀,並對它進行分析和測量。當雷射能量或功率足夠強時,在雷射輸出的方向上放置一個長焦距透鏡,觀測其焦平面上靶材燒蝕孔徑,就可以測出發散角

雷射時域特性參數測量

雷射時域特性參數測量包括脈衝波形寬度峰值功率重複功率、瞬時功率、功率穩定性等的測量。峰值功率是較為重要的時域特性參數,但是它要通過雷射能量和脈衝寬度或波形測量才能求出。雷射時域參數測量需要配備回響速度足夠快的線性探測器和記錄存儲顯示系統。雷射脈衝寬度在100~5納秒時,使用頻寬100~500兆赫的示波器,最好是記憶示波器或波形數字器。雷射脈衝寬度短到1納秒以下時,則使用高速電子光學條紋照相機,或雙光子吸收螢光法和二次諧波強度相關法等測量技術

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