掃描電鏡—能譜儀

掃描電鏡—能譜儀是產於日本的一種電子光學儀器，於2002年11月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描電鏡—能譜儀
• 產地：日本
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
• 型號：JSM-5610V
• 上市時間：2002年11月1日

技術指標

解析度高，高真空模式：3.0nm，低真空模式：4.5nm，儀器可提供低電壓下高質量的圖象，有利於實現樣品極表層的觀察。

服務內容

各種材料的表面形貌觀察和成分分析。