X射線能譜

X射線能譜是一種用於物理學、化學、材料科學、考古學領域的分析儀器。

基本介紹

• 中文名：X射線能譜儀
• 用途：進行材料表面微區成分的定性和定量分析
• 學科領域：物理學、化學、材料科學、考古學
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子能譜儀

技術指標

與掃描電子顯微鏡配合使用，用於檢測Be以上的所有元素，最大輸入計數率可達500000。

主要功能

進行材料表面微區成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點分布分析。可用於高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析，可進行金屬材料的相分析、金銀飾品、寶石首飾的鑑別，考古和文物鑑定等。

套用示例

從EP-WXT探路者觀測數據中，研究人員能獲得天體的X射線能譜。