X射線能譜儀及電子背散射衍射分析系統是一種用於化學、地球科學、材料科學、礦山工程技術領域的分析儀器,於2004年11月28日啟用。
基本介紹
- 中文名:X射線能譜儀及電子背散射衍射分析系統
- 產地:美國
- 學科領域:化學、地球科學、材料科學、礦山工程技術
- 啟用日期:2004年11月28日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線能譜儀
技術指標,主要功能,
技術指標
峰背比優於20000:1;能量解析度(20000CPS):Mn-Ka優於129eV。
主要功能
元素定性與半定量分析,對材料的晶體結構、織構、位向等進行分析。