X射線能譜儀及電子背散射衍射分析系統

X射線能譜儀及電子背散射衍射分析系統是一種用於化學、地球科學、材料科學、礦山工程技術領域的分析儀器，於2004年11月28日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線能譜儀及電子背散射衍射分析系統
• 產地：美國
• 學科領域：化學、地球科學、材料科學、礦山工程技術
• 啟用日期：2004年11月28日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線能譜儀

技術指標

峰背比優於20000：1；能量解析度(20000CPS)：Mn-Ka優於129eV。

主要功能

元素定性與半定量分析，對材料的晶體結構、織構、位向等進行分析。