X射線能譜分析（X-ray spectrometric analysis）是2015年全國科學技術名詞審定委員會公布的計量學名詞，出自《計量學名詞》第一版。
X射線能譜分析（X-ray spectrometric analysis）是2015年全國科學技術名詞審定委員會公布的計量學名詞，出自《計量學名詞》第一版。定義以高能X射線為試樣，將試樣原子內層軌道的電子激發出來，形成缺...
光子入射到固體表面激發出光電子，利用能量分析器對光電子進行分析的實驗技術稱為光電子能譜。XPS的原理是用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子。可以測量光電子的能量，以光...
由射線探測器得到的譜脈衝信號經放大器和多道分析器，進入微機系統。計算機通過軟體對X射線能譜的常規數據進行處理，從而對樣品的含量做定性和定量分析。譜數據處理包括：原始譜數據的光滑；自動尋峰及確定峰位的能量：待測元素的定性分析...
X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子，可以測量光電子的能量，以光電子的動能為橫坐標，相對強度(脈衝/s)為...
X射線能譜是一種用於物理學、化學、材料科學、考古學領域的分析儀器。技術指標 與掃描電子顯微鏡配合使用，用於檢測Be以上的所有元素，最大輸入計數率可達500000。主要功能 進行材料表面微區成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線...
化學分析技術，可以用來分析金屬材料在特定狀態下或在一些加工處理後的表面化學。物理原理 XPS（X射線光電子能譜）的原理是用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子。可以測量光...
X射線能譜分析法(XPS)是瑞典的西格巴赫(Siegbahn)於1954年首先發現的，利用這種方法可以進行除氫以外的所有元素的定性、定量和化學狀態分析，因此在材料學中有著廣泛的套用。①定性分析元素周期表中的任何一種元素都有各自的原子結構，與...
X射線光電子能譜學（英文：X-ray photoelectron spectroscopy，簡稱XPS）XPS主要套用是測定電子的結合能來鑑定樣品表面的化學性質及組成的分析，其特點在光電子來自表面10nm以內，僅帶出表面的化學信息，具有分析區域小、分析深度淺和不破壞...
由於x-ray能量較大，常用能譜表示。X-射線衍射分析 x-ray 的波長與物質微觀結構中原子、分子間距離相當，可被晶體衍射，可以判斷晶體的結構。X射線 1、X射線的產生 X射線是一種短波長（0.005-10nm）、高能量（2.5×10^5-1.2...
能量色散X射線譜是指在透射和掃描電鏡中使用X射線能譜儀分析試樣化學成分的方法及可得到的譜圖。簡介 X射線能譜儀用敏視窗一漂移鋰矽探測器，可探測從鈉至鈾的元素。改用薄視窗或無視窗，可探測元素擴展至輕元素。比例法 透射電鏡中...
利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生螢光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同，分為X射線光譜法（波長色散）和X射線能譜法（能量色散）。根據色散方式不同，X...
此後，隨著X射線螢光分析理論和方法的逐漸開拓和完善、儀器的自動化和計算機水平的迅速提高，60年代本法在常規分析上的重要性已充分顯示出來。70年代以後，又按激發、色散和探測方法的不同，發展成為X射線光譜法（波長色散）和X射線能譜法...
《X射線光電子能譜分析方法通則(GB/T 19500-2004)》提出單位：全國微束分析標準化委員會。本標準歸口單位：全國微束分析標準化委員會。本標準負責起草單位：北京大學化學與分子工程學院。本標準主要起草人：黃惠忠。本標準參加起草人：...
《超亮X射線源的能譜與時變相關性分析》是依託清華大學，由馮驊擔任項目負責人的青年科學基金項目。項目摘要 超亮X射線源（ULXs）是中等質量黑洞的候選體，也可能是特殊的黑洞雙星，在天體物理學中有重要意義，但它們的本質仍未知。如何...
X射線光電子能譜分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2015年3月31日啟用。技術指標 Ultimate energy resolution on Ag FWHM≤0.5 eV；XPS energy resolution on PET FWHM≤0.85eV。主要功能 主要用於對樣品表面進行元素種類測定...
當特徵X射線光子進入矽滲鋰探測器後便將矽原子電離，產生若干電子-空穴對，其數量與光子的能量成正比。利用偏壓收集這些電子空穴對，經過一系列轉換器以後變成電壓脈衝供給多脈衝高度分析器，並計數能譜中每個能帶的脈衝數。原理 一個內層...
本書論述X射線光譜分析的基本原理和方法．主要討論X射線光譜分析的理論基礎和儀器裝置，定性、半定量分析和原級X射線光譜分析法，螢光X射線光譜定量分析法，以及X射線能譜分析法等．對於國內外近年來的最新研究成就，也作了概括的介紹．...
XPS：固體樣品的表面組成分析，化學狀態分析，取樣訊息深度為～10nm以內. 功能包括:1. 表面定性與定量分析. 可得到小於10um 空間解析度的X射線光電子能譜的全譜資訊。2. 維持10um以下的空間解析度元素成分包括化學態的深度分析（角分辨...
X光電子能譜是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2015年6月16日啟用。技術指標 電子槍發射的電子最高能量≥1000 eV，能量解析度＞0.5%。 微聚焦單色化XPS，高精度鑑別化學態； 全自動操作，快速準確地分析表面化學表征； 高靈敏度...
§4.5 譜儀性能測試 §4.6 波長色散X射線螢光光譜儀現狀及其套用 參考文獻 第五章 能量色散X射線螢光光譜分析 §5.1 概述 §5.2 譜儀基本結構 §5.3 濾波選擇 §5.4 二次激發 §5.5 探測器 §5.6 能譜採集 §5.7 ...
為此我們提出了一套楔形等梯度劑量矩陣直接求解方法來得到閃光X射線的能譜，並對測量過程中的各種干擾因素進行一系列的修正和處理，同時與Monte Carlo理論分析的結果相互印證，預期最終得到實測的閃光X射線能譜。結題摘要 閃光X射線照相是...
近常壓x射線光電子能譜是一種用於物理學、化學領域的分析儀器，於2017年12月1日啟用。技術指標 EnviroESCA是一台能原位監測樣品表面性質動態變化的XPS儀器。其能量分析器的半徑為150mm，型號為SPECS PHOIBOS EP，採用單色化的鋁Kα作為...
X射線電子能譜 X射線電子能譜是一種用於化學領域的分析儀器，於2005年10月25日啟用。技術指標 空間解析度（um）：500um，能量解析度小於0.06，靈敏度：100000。主要功能 XPS,UPS。
按激發、色散和探測方法的不同，X螢光分析技術可分為X射線光譜法(即利用波長色散)和X射線能譜法(即利用能量色散)、特點 1.分析速度快，通常每個元素分析測量時間在2～lOOs之內即可完成。2.非破壞性，X射線螢光分析對樣品是非破壞性...
X射線能譜儀和EBSD X射線能譜儀和EBSD是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2008年1月1日啟用。技術指標 解析度：MnKa峰半高寬優於133eV；分析元素範圍：Be4-U92。主要功能 對材料進行元素成分分析和晶體結構、織構分析。
3．X射線探測系統 國際領先的X射線探測系統,電製冷高解析度高計數率探測器：薄窗對Fe 5.9keV的X射線計數率為 1000CPS時的解析度為140eV。對輕元素Na、Mg、Al、Si、S等具有高靈敏度與解析度。4. 高級原裝能譜儀電子學系統 原裝...
X射線螢光能譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2014年6月9日啟用。技術指標 1 分析元素範圍：Na11~Bk97 2 能量解析度(Mn-Ka)：優於140eV，在30,000cps下。嚴格依照ISO15632國際標準測量 3 可處理最大計數率:850,000CPS，最...
能譜曲線的套用可推廣到腫瘤來源的鑑別、良惡性腫瘤的鑑別、惡性腫瘤的分級等方面。有效原子序數 通過對物質X射線衰減理論的分析，能夠發現物質的X射線衰減曲線很大程度上取決於物質的有效原子序數的大小，依據這一特性，人們可利用有效原子...
x射線光電子譜是一種用於數學領域的分析儀器，於2008年12月1日啟用。技術指標 真空度5×10^(-8) PaX射線源射線能量：1486.6 eV (Al Kα line), 1253.6 eV (Mg Kα line)；能量半高寬：0.85 eV (Al Kα line), 0....
