X射線電子能譜是一種用於化學領域的分析儀器,於2005年10月25日啟用。
基本介紹
- 中文名:X射線電子能譜
- 產地:美國
- 學科領域:化學
- 啟用日期:2005年10月25日
- 所屬類別:分析儀器
X射線電子能譜是一種用於化學領域的分析儀器,於2005年10月25日啟用。
X射線光電子能譜學(英文:X-ray photoelectron spectroscopy,簡稱XPS)XPS主要套用是測定電子的結合能來鑑定樣品表面的化學性質及組成的分析,其特點在光電子來自表面10nm以內,僅帶出表面的化學信息,具有分析區域小、分析深度淺和不破壞...
X光電子能譜是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年6月16日啟用。技術指標 電子槍發射的電子最高能量≥1000 eV,能量解析度>0.5%。 微聚焦單色化XPS,高精度鑑別化學態; 全自動操作,快速準確地分析表面化學表征; 高靈敏度...
X射線電子能譜 X射線電子能譜是一種用於化學領域的分析儀器,於2005年10月25日啟用。技術指標 空間解析度(um):500um,能量解析度小於0.06,靈敏度:100000。主要功能 XPS,UPS。
X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子,可以測量光電子的能量,以光電子的動能為橫坐標,相對強度(脈衝/s)為...
X射線能譜分析法(XPS)是瑞典的西格巴赫(Siegbahn)於1954年首先發現的,利用這種方法可以進行除氫以外的所有元素的定性、定量和化學狀態分析,因此在材料學中有著廣泛的套用。①定性分析元素周期表中的任何一種元素都有各自的原子結構,與...
使用紫外輻射源作為激發源的稱為紫外光電子能譜,使用X射線的稱為X 射線光電子能譜,統稱為光電子能譜。(1)真空系統:目的是使電子不被殘餘氣體分子散射,並避免殘餘氣體分子吸附所引起的樣品表面污染。一般在實驗中,氣體壓力1.33*...
X射線光電子能譜法是2016年公布的化學名詞。定義 超高真空條件下,用電子能譜儀測量X射線光子輻照樣品表面時所發射的光電子及俄歇電子能量分布,以此測定周期表中除氫、氦以外所有元素及其化學態的一種非破壞性表面分析方法。出處 《化學...
1. 表面定性與定量分析. 可得到小於10um 空間解析度的X射線光電子能譜的全譜資訊。2. 維持10um以下的空間解析度元素成分包括化學態的深度分析(角分辨方式,,氬離子或團簇離子刻蝕方式)3. 線掃描或面掃描以得到線或面上的元素或化學...
X-射線光電子能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2014年3月18日啟用。技術指標 指標:(1) 分析室真空度優於5×10-9 mbar;(2) 能量解析度≤0.5eV (對Ag3d5/2峰的半高寬,乾淨的銀標樣);(3) 最佳空間解析度≤30 ...
X射線光電子能譜以軟X射線(能量200~2 000 eV)為激發源,激發原子的內層電子;而紫外光光電子能譜以紫外光(能量10~45 eV)為激發源,激發固體的價帶電子。原子中的內層電子或價電子吸收能量足夠大的光子後,會離開原子成為光電子...
電子能譜方法是研究電子能量分布及其套用的方法。樣品受到某些射線的激發而發射出電子,這些電子隨著能量的不同在數量上呈現出一種統計分布,這種分布稱為能譜圖。電子能譜圖是分析物質結構的有效手段。例如用單色X射線可激發出樣品的內...
X射線光電子能譜分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年3月31日啟用。技術指標 Ultimate energy resolution on Ag FWHM≤0.5 eV;XPS energy resolution on PET FWHM≤0.85eV。主要功能 主要用於對樣品表面進行元素種類測定...
多功能X射線光電子能譜儀是一種用於物理學、生物學、基礎醫學、臨床醫學領域的分析儀器,於2018年1月22日啟用。技術指標 1. 分析室真空度:5×10-10 mbar 2. 最佳能量解析度:0.43eV 3. 最小空間解析度:1μm4. Ag的3d5/2...
X射線能譜是一種用於物理學、化學、材料科學、考古學領域的分析儀器。技術指標 與掃描電子顯微鏡配合使用,用於檢測Be以上的所有元素,最大輸入計數率可達500000。主要功能 進行材料表面微區成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、線...
近常壓x射線光電子能譜是一種用於物理學、化學領域的分析儀器,於2017年12月1日啟用。技術指標 EnviroESCA是一台能原位監測樣品表面性質動態變化的XPS儀器。其能量分析器的半徑為150mm,型號為SPECS PHOIBOS EP,採用單色化的鋁Kα作為...
角分辨X射線光電子能譜儀是一種用於材料科學、化學、物理學、化學工程領域的分析儀器,於2016年12月29日啟用。技術指標 單色化Al靶、雙陽極Al/Mg靶、功率大於等於500W; 超高真空系統,樣品分析室真空優於5*10^-10 Torr; 能量分辨...
測量和跟蹤激發出的x射線強度與人射電子能量的關係可了解表面組成,因為當因吸附等原因而引起表面組成變化時其相應的電勢譜峰發生變化。但是,在分析表面組成卜xAP的靈敏度遠不及俄歇電子能譜(AE引)。
X射線光電子能譜及俄歇電子能譜聯用儀 X射線光電子能譜及俄歇電子能譜聯用儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年1月4日啟用。技術指標 能量範圍:0-5000ev,解析度0.45ev。主要功能 表面及界面分析,。
原位X射線光電子能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2012年11月26日啟用。技術指標 單色化Al KX射線源/He電漿光源,能量分析器能量解析度≤2meV.能量測量範圍: 0.5eV~1500eV,原位有機薄膜蒸鍍系統...
X射線光電子能譜小面積分析法(small area analysis by X-ray photoelectron spectroscopy)是2016年全國科學技術名詞審定委員會公布的化學名詞。定義 通過降低能量分析器輸入透鏡光闌或縮小入射X射線束徑,只接收樣品表面小面積出射的光電子...
掃描微區X射線光電子能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2012年5月3日啟用。技術指標 可用於測定聚合物、金屬及無機非金屬材料表面微區(微米級)界面性質的表征及整體較大尺寸構件的大面積結構性能。主要功能 樣品表面元素組成...
ESCA也是化學分析電子能譜(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis),由於多用X射線作為發射源,所以通常又特指X射線光電子能譜(XPS:X-ray Photoelectron Spectroscopy)。發展歷程 一、ESCA電子印章的進展情況 2003年12月,經信息...