軟X射線顯現電熱能譜SxrV'S; soft x-ray appearance}tential spectroscopy將電子束射於固體上，’.j其能量超過顯現能時才能激發出特定的x射線。測量和跟蹤激發出的x射線強度與人射電子能量的關係可了解表面組成，因為當因吸附等原因而引起表面組成變化時其相應的電勢譜峰發生變化。但是，在分析表面組成卜}xAP的靈敏度遠不及俄歇電子能譜(AE引。
