原位X射線光電子能譜儀

原位X射線光電子能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器，於2012年11月26日啟用。

基本介紹

• 中文名：原位X射線光電子能譜儀
• 產地：德國
• 學科領域：物理學、化學、材料科學
• 啟用日期：2012年11月26日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線能譜儀

技術指標

單色化Al KX射線源/He電漿光源，能量分析器能量解析度≤2meV.能量測量範圍： 0.5eV～1500eV，原位有機薄膜蒸鍍系統，原位STM。

主要功能

分析材料的物質組成以及能級結構。