掃描微區X射線光電子能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2012年5月3日啟用。
掃描微區X射線光電子能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2012年5月3日啟用。技術指標可用於測定聚合物、金屬及無機非金屬材料表面微區（微米級）界面性質的表征及整體較大尺寸構件的大面積結構性能。1主要功能樣品表面元...
X射線光電子譜儀是一種用於化學、機械工程、材料科學、能源科學技術領域的分析儀器，於2016年11月10日啟用。技術指標 1、能量掃描範圍：1～4000 eV 2、最佳能量解析度：≤0.45 eV（XPS），100 meV（UPS） 3、最佳空間解析度：≤3 ...
X射線光電子能譜分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2015年3月31日啟用。技術指標 Ultimate energy resolution on Ag FWHM≤0.5 eV；XPS energy resolution on PET FWHM≤0.85eV。主要功能 主要用於對樣品表面進行元素種類測定...
電子能量分析器是X射線光電子能譜儀的關鍵組成部分。它的作用是測量電子能量分布和不同能量電子的相對強度。電子能量分析器和電子倍增器系統完全由微型電子計算機控制。套用 概述 對固體樣品的元素成分進行定性、定量或半定量及價態分析。
XPS光電子譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2014年11月5日啟用。技術指標 1. X射線源 靶：單色化Al靶、雙陽極Al/Mg靶 能量解析度：0.45eV/（Ag 3d5/2） 0.82eV/（C 1s） 最小分析區域（收譜）20μm 靈敏度：1*106...
角分辨X射線光電子能譜儀是一種用於材料科學、化學、物理學、化學工程領域的分析儀器，於2016年12月29日啟用。技術指標 單色化Al靶、雙陽極Al/Mg靶、功率大於等於500W； 超高真空系統，樣品分析室真空優於5*10^-10 Torr； 能量分辨...
俄歇電子能譜儀 電子束轟擊材料表面，會產生表征元素種類及其化學價態的二次電子，這種二次電子稱為俄歇電子。俄歇電子的穿透能力弱，故可以用來分析表面1nm以內幾個原子層的成分。如配上濺射離子槍可對試樣進行逐層分析；掃描電鏡可以...
原位X射線光電子能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器，於2012年11月26日啟用。技術指標 單色化Al KX射線源/He電漿光源，能量分析器能量解析度≤2meV.能量測量範圍： 0.5eV～1500eV，原位有機薄膜蒸鍍系統...
