X射線光電子能譜小面積分析法（small area analysis by X-ray photoelectron spectroscopy）是2016年全國科學技術名詞審定委員會公布的化學名詞。
X射線光電子能譜小面積分析法（small area analysis by X-ray photoelectron spectroscopy）是2016年全國科學技術名詞審定委員會公布的化學名詞。定義通過降低能量分析器輸...
X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子，可以測量光電子的能量，以光電子的動能為橫坐標，相對強度(脈衝/s)為...
X射線光電子能譜因對化學分析最有用，因此被稱為化學分析用電子能譜（Electron Spectroscopy for Chemical Analysis）。特點 XPS作為一種現代分析方法，具有如下特點：（1）可以分析除H和He以外的所有元素，對所有元素的靈敏度具有相同的...
Auger電子能譜法：屬於二次電子能譜法。多用於對固體，或凝聚態物質進行元素和價態的分析。圖譜簡單，儀器要求較高。常用來和X射線光電子能譜,螢光光譜，互補聯合使用。儀器組成 光電子能譜儀主要由6個部分組成：激發源、樣品電離室、...
其中是電子結合能，是所用的X射線的光子的能量，是被測量到的電子的動能，是能譜儀（而不是材料）的功函式。這一公式是基於歐內斯特·盧瑟福在1914年的工作得來的。分析區域限制 測量部位取決於儀器的設計形態。最小分析面積從10微米到...
X射線光電子能譜學（英文：X-ray photoelectron spectroscopy，簡稱XPS）XPS主要套用是測定電子的結合能來鑑定樣品表面的化學性質及組成的分析，其特點在光電子來自表面10nm以內，僅帶出表面的化學信息，具有分析區域小、分析深度淺和不破壞...
電子能譜分析法是指採用單色光源（如X射線、紫外光）或電子束去照射樣品，使樣品中電子受到激發而發射出來，然後測量這些電子的產額（強度）對其能量的分布，從中獲得有關信息。簡述 電子能譜分析方法是20世紀70年代以來迅速發展起來的表面...
《X射線光電子能譜分析方法通則(GB/T 19500-2004)》提出單位：全國微束分析標準化委員會。本標準歸口單位：全國微束分析標準化委員會。本標準負責起草單位：北京大學化學與分子工程學院。本標準主要起草人：黃惠忠。本標準參加起草人：...
XPS：固體樣品的表面組成分析，化學狀態分析，取樣訊息深度為～10nm以內. 功能包括:1. 表面定性與定量分析. 可得到小於10um 空間解析度的X射線光電子能譜的全譜資訊。2. 維持10um以下的空間解析度元素成分包括化學態的深度分析（角分辨...
X射線光電子能譜[學]X射線光電子能譜[學]（X-ray photoelectron spectroscopy）是1993年公布的電子學名詞。公布時間 1993年，經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處 《電子學名詞》第一版。
X-射線光電子能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2014年3月18日啟用。技術指標 指標：(1) 分析室真空度優於5×10-9 mbar；(2) 能量解析度≤0.5eV (對Ag3d5/2峰的半高寬，乾淨的銀標樣)；(3) 最佳空間解析度≤30 ...
