X-射線光電子能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2014年3月18日啟用。
基本介紹
- 中文名：X-射線光電子能譜儀
- 產地：英國
- 學科領域：材料科學
- 啟用日期：2014年3月18日
- 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線能譜儀
技術指標,主要功能,
技術指標
指標：(1) 分析室真空度優於5×10-9 mbar；(2) 能量解析度≤0.5eV (對Ag3d5/2峰的半高寬，乾淨的銀標樣)；(3) 最佳空間解析度≤30 µm；(4) 微聚焦單色化(Al Kα)X射線源，其中：束斑面積從400 μm至30 μm連續可調；束斑為400 μm，Ag3d5/2峰的半高寬≤1.0 eV時，計數率≥2,000,000 cps；束斑為100 μm，Ag3d5/2峰的半高寬≤1.0 eV時，計數率≥750,000 cps；束斑為50 μm，Ag3d5/2峰的半高寬≤1.0 eV時，計數率≥50,000 cps；(5) 離子槍的能量範圍：100 eV～3000 eV；最大束流為4μA。
主要功能
用途：進行纖維、織物和高分子材料的高精度表面化學分析和表征，確定樣品表面的元素組成、化學態和元素相對含量的信息。
