XPS光電子能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年9月11日啟用。
基本介紹
- 中文名:XPS光電子能譜儀
- 產地:日本
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2018年9月11日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線能譜儀
XPS光電子能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年9月11日啟用。
XPS光電子能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年9月11日啟用。技術指標1. AlKα/AgLα單色化雙陽極XPS 1.1 *射線源類型:水冷Al/Ag靶射線源; 1.2 *最大功率:不低於500W; 1...
以X射線為激發光源的光電子能譜,簡稱XPS或ESCA。處於原子內殼層的電子結合能較高,要把它打出來需要能量較高的光子,以鎂或鋁作為陽極材料的X射線源得到的光子能量分別為1253.6ev和1486.6ev,此範圍內的光子能量足以把不太重的原子...
XPS光電子譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2014年11月5日啟用。技術指標 1. X射線源 靶:單色化Al靶、雙陽極Al/Mg靶 能量解析度:0.45eV/(Ag 3d5/2) 0.82eV/(C 1s) 最小分析區域(收譜)20μm 靈敏度:1*106...
(1) XPS, AES:即以常規X-射線(Mg ka, Al ka)或電子作激發源測定樣品表面元素、組成及化學狀態。(2) LEED:用於測定材料表面的有序性。(3) SRPES:以同步輻射光為光電子能譜激發源測定材料表面的電子結構。套用 光電子能譜的...
XPS:固體樣品的表面組成分析,化學狀態分析,取樣訊息深度為~10nm以內. 功能包括:1. 表面定性與定量分析. 可得到小於10um 空間解析度的X射線光電子能譜的全譜資訊。2. 維持10um以下的空間解析度元素成分包括化學態的深度分析(角分辨...
X射線光電子能譜分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年3月31日啟用。技術指標 Ultimate energy resolution on Ag FWHM≤0.5 eV;XPS energy resolution on PET FWHM≤0.85eV。主要功能 主要用於對樣品表面進行元素種類測定...
按探針光子的能量,PES可以分為兩類:X射線光電子譜(XPS),能量範圍為100eV~10keV;紫外線電子譜(UPS)能量範圍為10eV~40eV。俄歇電子能譜儀 電子束轟擊材料表面,會產生表征元素種類及其化學價態的二次電子,這種二次電子稱為俄歇...
X射線光電子能譜學(英文:X-ray photoelectron spectroscopy,簡稱XPS)XPS主要套用是測定電子的結合能來鑑定樣品表面的化學性質及組成的分析,其特點在光電子來自表面10nm以內,僅帶出表面的化學信息,具有分析區域小、分析深度淺和不破壞...
XPS(X射線光電子能譜)的原理是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子。可以測量光電子的能量,以光電子的動能為橫坐標,相對強度(脈衝/s)為縱坐標可做出光電子能譜圖。
X-光電子能譜儀是一種用於物理學、化學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2011年12月28日啟用。技術指標 1、真空度:≤4X10-6Pa;2、能量範圍:0-1200電子伏特;3、X-ray類型:錐形雙陽極Mg或Al的Kа射線;4、最佳能量解析度...
化學分析電子譜微探針X光電子能譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2002年4月8日啟用。技術指標 X-ray光源:Al陽極靶,掃描式單色器; 束斑:10 μm~200 μm,一般100 μm~200 μm; 能量分析儀:180o半球形分析器+16通道...
X射線光電子能譜法是2016年公布的化學名詞。定義 超高真空條件下,用電子能譜儀測量X射線光子輻照樣品表面時所發射的光電子及俄歇電子能量分布,以此測定周期表中除氫、氦以外所有元素及其化學態的一種非破壞性表面分析方法。出處 《化學...
3.1 惰性氣氛樣品處理倉 *3.1.1 氧殘留量<1ppm *3.1.2 水份殘留量<1ppm 3.1.3 大樣品傳送倉門 *3.1.4 與型號為K-Alpha+的X射線光電子能譜儀對接的標準接 3.2 惰性氣氛樣品轉移倉; 3.2.1 可實現在惰性氣氛下...
紫外光電子能譜儀使用的是紫外範圍的光子,紫外光比x射線能量低,是用來激發樣品最外層即價殼層電子的,所以紫外光電子能譜儀多用來研究樣品的能帶結構和表面態情況。該表面分析系統中的能量分析器與表面分析室為UPS和XPS共同使用,UPS...
X射線光電子能譜儀可分析樣品表面(1個原子層至10nm厚度範圍)化學成分及元素化合價態。STM可用於多種無機(包括半導體、高溫超導體、金屬、磁性、氧化物等)單晶塊材、外延薄膜的表面結構分析,而XPS的測試對象除了前述的各種無機材料外...
該中心擁有高分辨透射電子顯微鏡(HRTEM)、X射線光電子能譜儀(XPS)、液相色譜質譜聯用系統(LC-QTOF,LC-QQQ)、多功能X射線粉末衍射儀(XRD)、冷凍掃描電鏡(Cryo-FESEM)、固體/液體核磁共振波譜儀、波長色散X射線螢光光譜儀(...
微結構分析方法主要有光電子能譜技術、光譜分析技術、顯微分析技術、X射線分析技術等。光電子能譜技術包括X光電子能譜(XPS)和俄歇光電子能譜(AES);光譜分析掛術包括紅外光譜(IR)和Raman光譜;顯微分析技術中有掃描隧道顯微鏡(STM),...
異物分析主要涉及三個方面,一是異物的有機物結構分析,主要用紅外顯微鏡-FTIR;二是異物或材料表面的元素成分分析,主要用電子探針(EPMA)、掃描電鏡能譜儀(SEM-EDX)、多功能光電子能譜儀(XPS)、能量色散型微區X 射線螢光光譜儀...
學校還投資300萬美元,建設一個面向全校的材料分析和測試中心,擁有最先進的透射電鏡(TEM)、掃描電鏡(SEM)、X-射線衍射儀(XRD)、光電子能譜儀(XPS)等大型精密儀器設備。這些為教學和科研提供了良好的條件。“材料科學與工程導論...
中國科學院上海光學精密機械研究所(簡稱中科院上海光機所)是中國建立最早、規模最大的雷射專業研究所,成立於1964年,已發展成為以探索現代光學重大基礎及套用基礎前沿研究、發展大型雷射工程技術並開拓雷射與光電子高技術套用為重點的綜合性...