X射線光電子能譜[學]（X-ray photoelectron spectroscopy）是1993年公布的電子學名詞。
基本介紹
- 中文名：X射線光電子能譜[學]
- 外文名：X-ray photoelectron spectroscopy
- 所屬學科：電子學
- 公布時間：1993年
公布時間,出處,
X射線光電子能譜[學]（X-ray photoelectron spectroscopy）是1993年公布的電子學名詞。
被光子激發出來的電子稱為光電子。可以測量光電子的能量，以光電子的動能/束縛能（binding energy，Eb=hv光能量-Ek動能-w功函式）為橫坐標，相對強度（脈衝/s）為縱坐標可做出光電子能譜圖。從而獲得試樣有關信息。X射線光電子能譜因...
X射線光電子能譜[學]X射線光電子能譜[學]（X-ray photoelectron spectroscopy）是1993年公布的電子學名詞。公布時間 1993年，經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處 《電子學名詞》第一版。
XPS（X射線光電子能譜）的原理是用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子。可以測量光電子的能量，以光電子的動能為橫坐標，相對強度（脈衝/s）為縱坐標可做出光電子能譜圖。
X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子，可以測量光電子的能量，以光電子的動能為橫坐標，相對強度(脈衝/s)為...
X-射線光電子能譜儀，是一種表面分析技術，主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線，如Al Ka =1486.6eV，與樣品表面相互作用，利用光電效應，激發樣品表面發射光電子，利用能量分析器，測量光電子動能(K.E)，...
x射線光電子譜是一種用於數學領域的分析儀器，於2008年12月1日啟用。技術指標 真空度5×10^(-8) PaX射線源射線能量：1486.6 eV (Al Kα line), 1253.6 eV (Mg Kα line)；能量半高寬：0.85 eV (Al Kα line), 0....
X-射線光電子能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2014年3月18日啟用。技術指標 指標：(1) 分析室真空度優於5×10-9 mbar；(2) 能量解析度≤0.5eV (對Ag3d5/2峰的半高寬，乾淨的銀標樣)；(3) 最佳空間解析度≤30 ...
X射線光電子能譜分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2015年3月31日啟用。技術指標 Ultimate energy resolution on Ag FWHM≤0.5 eV；XPS energy resolution on PET FWHM≤0.85eV。主要功能 主要用於對樣品表面進行元素種類測定...
近常壓x射線光電子能譜是一種用於物理學、化學領域的分析儀器，於2017年12月1日啟用。技術指標 EnviroESCA是一台能原位監測樣品表面性質動態變化的XPS儀器。其能量分析器的半徑為150mm，型號為SPECS PHOIBOS EP，採用單色化的鋁Kα作為...
根據光源的不同，光電子能譜可分為:1、紫外光電子能譜UPS（Ultroviolet Photoelectron Spectrometer）；2、X射線光電子能譜XPS（X-Ray Photoelectron Spectrometer ）3、俄歇電子能譜AES(Auger Electron Spectrometer)。X射線光電子能譜法：...
《X射線光電子能譜分析方法通則(GB/T 19500-2004)》提出單位：全國微束分析標準化委員會。本標準歸口單位：全國微束分析標準化委員會。本標準負責起草單位：北京大學化學與分子工程學院。本標準主要起草人：黃惠忠。本標準參加起草人：...
原位X射線光電子能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器，於2012年11月26日啟用。技術指標 單色化Al KX射線源/He電漿光源，能量分析器能量解析度≤2meV.能量測量範圍： 0.5eV～1500eV，原位有機薄膜蒸鍍系統...
本X射線光電子能譜儀測試系統為帶有多種功能的綜合性光電子能譜分析平台。該系統可在極高真空下，通過配備的X射線光源以及紫外光源，在樣品表面激發光電子，再通過高精度探測器捕獲分析，得到相應的光電子能譜。可用於目標樣品的元素組成...
掃描微區X射線光電子能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2012年5月3日啟用。技術指標 可用於測定聚合物、金屬及無機非金屬材料表面微區（微米級）界面性質的表征及整體較大尺寸構件的大面積結構性能。主要功能 樣品表面元素組成...
一定能量的電子、X射線或紫外光作用於試樣表面，產生光電子。分析光電子的能量分布，得到光電子能譜。包括兩種能譜：X射線光電子能譜（XPS）和紫外光電子能譜（UPS）。前者以能量較高的X射線作激發源，可以把電子內層電子激發成自由電子...
《表面化學分析 X射線光電子能譜分析指南》（標準號：GB/T 30704-2014）是2014年3月27日中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會發布的國家標準。編制進程 2014年3月27日，《表面化學分析 X射線光電子能譜...
《表面化學分析—X射線光電子能譜—薄膜分析結果的報告》是2019年5月1日實施的一項中國國家標準。編制進程 2018年6月7日，《表面化學分析—X射線光電子能譜—薄膜分析結果的報告》發布。2019年5月1日，《表面化學分析—X射線光電子能...
角分辨X射線光電子能譜儀是一種用於材料科學、化學、物理學、化學工程領域的分析儀器，於2016年12月29日啟用。技術指標 單色化Al靶、雙陽極Al/Mg靶、功率大於等於500W； 超高真空系統，樣品分析室真空優於5*10^-10 Torr； 能量分辨...
X射線能譜是一種用於物理學、化學、材料科學、考古學領域的分析儀器。技術指標 與掃描電子顯微鏡配合使用，用於檢測Be以上的所有元素，最大輸入計數率可達500000。主要功能 進行材料表面微區成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線...
這種方法是對用光子（電磁輻射）或粒子（電子、離子、原子等）照射或轟擊材料（原子、分子或固體）產生的電子能譜進行分析的方法。其中俄歇電子能譜、光電子能譜、X射線光電子能譜和紫外光電子能譜等對樣品表面的淺層元素的組成能給出...
光電子學有時也狹義地專指光- 電轉換器件及其套用的領域。光電子學還包括光電子能譜學。它是利用光電子發射帶出的信息來研究固體內部和表面的成分和電子結構，如X射線光電子能譜學和紫外光電子能譜學。器件類別 光電子器件主要有作為...
本書可供從事分析化學、物質結構、量子化學、表面物理和表面化學以及原子和分子物理學等研究的科技人員參考。作品目錄 目錄 第一章 X射線光電子能譜學的基本原理 第二章 X射線光電子能譜的儀器設備 第三章 X射線光電子能譜的實驗技術...