《電子能譜基礎》是1981年8月科學出版社出版的圖書，作者是潘承璜、趙良仲。
《電子能譜基礎》是1981年8月科學出版社出版的圖書，作者是潘承璜、趙良仲。內容簡介本書對六十年代後期發展起來的新學科——電子能譜學作了較全面的論述。全書以介紹X射線光電子能譜為主，並簡要介紹了紫外光電子能譜和俄歇電子能...
1905 年，Einstein 在他的論文中解釋了光電效應，而P. Auger 在1923 年發現了Auger效應，這兩個效應構成了現在的化學分析電子能譜學的基礎。分析電子動能的儀器也已經很早就出現了，甚至早在第一次世界大戰前，就已經有了利用磁場分析...
真空紫外光電子能譜以真空紫外光(hn 真空紫外光電子能譜以真空紫外光(hn 由於光源能量較低，線寬較窄（約為0.01eV）,只能使原子的外層價電子、價帶電子電離，並可分辨出分子的振動能級,因此UPS被廣泛地用來研究氣體樣品的價電子和精細...
以X射線為激發光源的光電子能譜，簡稱XPS或ESCA。處於原子內殼層的電子結合能較高，要把它打出來需要能量較高的光子，以鎂或鋁作為陽極材料的X射線源得到的光子能量分別為1253.6ev和1486.6ev，此範圍內的光子能量足以把不太重的原子...
對於氣態樣品, 能夠測定從分子中各個被占分子軌道上激發電子所需要的能量，提供分子軌道能級高低的直接圖象，為分子軌道理論提供堅實的實驗基礎。原理 紫外光電子譜的基本原理是光電效應（如圖1）。它是利用能量在16-41eV的真空紫外光子照射...
《X光電子能譜中荷電控制和荷電基準技術標準指南》是2016年1月1日實施的一項中國國家標準。編制進程 2015年5月15日，《X光電子能譜中荷電控制和荷電基準技術標準指南》發布。2016年1月1日，《X光電子能譜中荷電控制和荷電基準技術...
X光電子能譜是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2015年6月16日啟用。技術指標 電子槍發射的電子最高能量≥1000 eV，能量解析度＞0.5%。 微聚焦單色化XPS，高精度鑑別化學態； 全自動操作，快速準確地分析表面化學表征； 高靈敏度...
《譜學基礎與結構分析》是2005年高等教育出版社出版的圖書，作者是陸維敏陳芳。內容簡介 本書主要介紹紅外光譜、Raman光譜、紫外光譜、磁共振譜、電子能譜、質譜和X射線衍射法等譜學基礎理論和實驗技術，並通過大量各類譜圖和綜合譜圖解析...
多功能電子能譜是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器，於2006年02月05日啟用。技術指標 1．使用“slot mode”下銀標樣的最小解析度為0.48 eV；2．靈敏度大於2.5×105 CPS；3. 選區XPS（最小選區為15μm，最大選區為11）。...
1．3．2 光電離截面和電子逃逸深度 1．3．3 光電子能量分布曲線 1．3．4 光電發射中的守恆量 1．3．5 光電發射中的偏振選擇定則 1．4 光電子能譜基礎 1．4．1 光電子能譜的基本原理 1．4．2 光電子能譜的實驗裝置 1．5...
我們已經測量了若干材料的光學常數，為大規模建立基於表面電子能譜學的各種材料的光學常數資料庫打下了基礎；3、我們還進行了掃描電子顯微學（SEM）中的經典蒙特卡洛方法研究：（1）探討了絕緣體材料的SEM成像中的荷電效應；（2）研究了...
X射線電子能譜 X射線電子能譜是一種用於化學領域的分析儀器，於2005年10月25日啟用。技術指標 空間解析度（um）：500um，能量解析度小於0.06，靈敏度：100000。主要功能 XPS,UPS。
近常壓x射線光電子能譜是一種用於物理學、化學領域的分析儀器，於2017年12月1日啟用。技術指標 EnviroESCA是一台能原位監測樣品表面性質動態變化的XPS儀器。其能量分析器的半徑為150mm，型號為SPECS PHOIBOS EP，採用單色化的鋁Kα作為...
材料的二次電子發射是許多學科和技術領域的基礎問題，本項目針對微結構表面的二次電子發射特性及其套用展開研究。主要開展的研究內容及取得的成果如下：1.結合二次電子能譜分布分析了偏壓法測試二次電子發射係數的原理及誤差，為提高測量精度...
全書分為八章：一、分子光譜基礎；二、紅外和拉曼光譜；三、紫外及可見吸收光譜；四、磁共振譜；五、質譜法；六、波譜綜合解析；七、x射線衍射與光譜；八、電子能譜。為了便於讀者鞏固所學知識和提高解題能力，各章都給出相應例題和...
材料的光學常數是其物質基本物性參數，決定了材料的光電性能，因而它的成功獲取對基礎研究和新材料的開發套用都有著極其重要的意義。我們在前期發展了一種用於從反射電子能量損失譜獲得材料光學數據的逆蒙特卡洛算法，使得通過表面電子能譜的...
角分辨光電子能譜系統是一種用於數學領域的分析儀器，於2016年12月01日啟用。技術指標 Analysis chamber with double mu-metal liner guaranteed residual magnetic field lower than 0,1 microTesla and base pressure range 2*10-10 ...
電子能量分析系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2006年9月15日啟用。技術指標 主腔真空度好於1E-10 Torr，實際可達5E-11 Torr；真空室中樣品位置剩餘磁場達到0.51 mGauss；電子能量分析器的最佳能量解析度~1 meV，...
原位X射線光電子能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器，於2012年11月26日啟用。技術指標 單色化Al KX射線源/He電漿光源，能量分析器能量解析度≤2meV.能量測量範圍： 0.5eV～1500eV，原位有機薄膜蒸鍍系統...
x射線光電子譜是一種用於數學領域的分析儀器，於2008年12月1日啟用。技術指標 真空度5×10^(-8) PaX射線源射線能量：1486.6 eV (Al Kα line), 1253.6 eV (Mg Kα line)；能量半高寬：0.85 eV (Al Kα line), 0....
多功能X射線光電子能譜儀是一種用於物理學、生物學、基礎醫學、臨床醫學領域的分析儀器，於2018年1月22日啟用。技術指標 1. 分析室真空度：5×10-10 mbar 2. 最佳能量解析度：0.43eV 3. 最小空間解析度：1μm4. Ag的3d5/2...
角分辨光電子能譜設備是一種用於物理學領域的分析儀器，於2018年10月31日啟用。技術指標 能量解析度2meV；樣品溫度7-400K。主要功能 實驗站能譜測量入射光源同時具備高解析度、高亮度的低能深紫外雷射以及連續可調、可變偏振的EPU束線光源...
電鏡能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2017年07月14日啟用。技術指標 解析度(MnKa at 20kcps): 主要功能 電子能譜儀是利用光電效應測出光電子的動能及其數量的關係，由此來判斷樣品表面各種元素含量的儀器。還可研究原子的...
自旋分辨-動量分辨光電子能譜儀 自旋分辨-動量分辨光電子能譜儀是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2013年10月22日啟用。技術指標 P10-9mbr。主要功能 分析樣品的表面特性。
多功能·光電子能譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2014年12月13日啟用。技術指標 超高真空： 5×10-10 mbar 單色化Al Kα; 水冷雙陽極Mg/Al Kα; 水冷雙陽極Zr Lα, Ti Kα 能量解析度： 0.45 eV, 靈敏度: 400k ...
主要內容包括原子物理學的主要研究內容、原子的激發態結構、分子的能級結構、譜線寬度和線形、雷射和同步輻射光譜學、電子能譜學和電子動量譜學、其它一些重要研究手段等。《普通高等教育十一五國家級規劃教材：高等原子分子物理學》以實驗...
運用超短超強雷射直接產生正電子已在英國盧瑟福實驗室開展，他們用重複頻率的TW級的雷射，打在高Z元素的靶上得到每脈衝2×107個正電子，它對於基礎研究和材料科學很有用途。通過超短超強雷射和氘團簇的相互作用，產生聚變反應的中子，其...
電子印章是建立在技術保障（而不相信任何人）的基礎上。每一次使用，系統會自動記錄使用人姓名、使用時間、使用次數，信息自動生成簽章日誌。各單位領導可以隨時查詢簽章日誌，以便監督電子印章的使用情況，科學管理。而物理印章無法實時記錄...
