電鏡能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2017年07月14日啟用。
基本介紹
- 中文名:電鏡能譜儀
- 產地:美國
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2017年07月14日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子能譜儀
電鏡能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2017年07月14日啟用。
電鏡能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2017年07月14日啟用。技術指標解析度(MnKa at 20kcps): 1主要功能電子能譜儀是利用光電效應測出光電子的動能及其數量的關係,由此來判斷樣品表面各種元素含量...
能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析,配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。原理 各種元素具有自己的X射線特徵波長,特徵波長的大小則取決於能級躍遷過程中釋放出的特徵能量△E,能譜儀...
掃描電子顯微鏡-能譜儀是一種用於物理學、化學、生物學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2009年8月31日啟用。技術指標 二次電子像解析度:1.0nm(15kv);1.4nm(1kv,減速模式);2.0nm (1kV)普通模式;加速電壓:0.5 ~ 30kV;...
掃描電子顯微鏡及電子能譜儀是一種用於材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術領域的分析儀器,於2015年5月8日啟用。技術指標 掃描電鏡設備主要技術參數:1、解析度:二次電子(SE)像解析度在高真空時:30kV時優於3.0nm,3kV時優於10....
掃描電鏡—能譜儀是產於日本的一種電子光學儀器,於2002年11月1日啟用。技術指標 解析度高,高真空模式:3.0nm,低真空模式:4.5nm,儀器可提供低電壓下高質量的圖象,有利於實現樣品極表層的觀察。服務內容 各種材料的表面形貌觀察...
掃描電子顯微鏡及能譜儀是一種用於材料科學、機械工程、安全科學技術領域的分析儀器,於2010年12月27日啟用。技術指標 放大倍數:6x–1,000,000x,解析度:30kV下3.0nm(SE),30kV下4.0nm(BSE),3kV下8.0nm(SE)。主要功能 微觀...
掃描電鏡及能譜儀是一種用於材料科學、能源科學技術、化學工程學科領域的電子光學儀器,於2012年8月1日啟用。技術指標 放大倍數30000倍,可檢測表面元素組成。主要功能 以電影攝影顯像方式,用聚焦電子束在樣品表面掃描時激發產生的某些物理...
掃描電鏡能譜儀 掃描電鏡能譜儀是一種用於信息科學與系統科學、力學、物理學、化學領域的分析儀器,於2015年9月22日啟用。技術指標 掃描電鏡和能譜一體化操作。主要功能 物質化學成分的定量分析。
《掃描電鏡與能譜儀分析技術》是2009年由華南理工大學出版出版的圖書。該書是關於掃描電子顯微鏡和x-射線能譜議的專著。內容簡介 第一章至第七章介紹掃描電鏡基礎知識、電子束與樣品的相互作用、工作原理與結構、圖像襯度與成因、圖像...
《掃描電鏡和能譜儀的原理與實用分析技術(第2版)》是2022年電子工業出版社出版的圖書,作者是工業和信息化部電子第五研究所 。內容簡介 本書從套用的角度出發,介紹了掃描電鏡和能譜儀的基本原理及其在實際工作中的一些典型套用。全書...
《掃描電鏡和能譜儀的原理與實用分析技術》是2015年電子工業出版社出版的圖書,作者是杜樹春。內容簡介 集成運算放大器是一種具有高電壓放大倍數的直接耦合放大器,廣泛套用於運算、測量、控制以及信號的產生、處理和變換等領域。本書介紹的...
《掃描電鏡/能譜原理及特殊分析技術》是化學工業出版社於2020年出版的一本圖書,作者是任小明。內容簡介 《掃描電鏡/能譜原理及特殊分析技術》詳細闡述了掃描電鏡/X射線能譜儀基本原理和特殊分析技術原理及套用兩部分內容,將掃描電鏡和能...
高真空-0.8nmat30kV(STEM)-1.2nmat30kV(SE)-2.5nmat30kV(BSE)-3.0nmat1kV(SE)低真空-1.5nmat30kV(SE)-2.5nmat30kV(BSE)-3.0nmat3kV(SE)□加速電壓:200V–30kV□電流:upto100nAGENESISXM2forSEM掃描電鏡能譜儀Si(...
俄歇電子能譜儀 電子束轟擊材料表面,會產生表征元素種類及其化學價態的二次電子,這種二次電子稱為俄歇電子。俄歇電子的穿透能力弱,故可以用來分析表面1nm以內幾個原子層的成分。如配上濺射離子槍可對試樣進行逐層分析;掃描電鏡可以...
X射線能譜儀用敏視窗一漂移鋰矽探測器,可探測從鈉至鈾的元素。改用薄視窗或無視窗,可探測元素擴展至輕元素。比例法 透射電鏡中薄試樣的定量分析採用Cliff-Lorimer法,又稱比例法,Ca/Cb=KabIaIb,式中Kab,是與樣品原度和濃度無...
高分辨顯微結構照片、微區電子衍射、EDS能譜。JEM-2100透射電鏡作為一架通用的高解析度分析電子顯微鏡套用廣泛,從高解析度圖像觀察、極微小領域X射線分析、通過會聚電子衍射進行的晶體結構的精密分析,到物質的電子結構以及結合狀態的分析,...
X射線能譜是一種用於物理學、化學、材料科學、考古學領域的分析儀器。技術指標 與掃描電子顯微鏡配合使用,用於檢測Be以上的所有元素,最大輸入計數率可達500000。主要功能 進行材料表面微區成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、線...
能譜儀元素分析範圍Be4—U92,能量解析度(Mn-Ka):優於129eV,嚴格依照ISO15632國際標準測量。主要功能 EVO MA 10是一台通用的高性能鎢燈絲掃描電子顯微鏡,具有全自動控制的分子泵+旋轉泵的真空系統、自動透鏡控制功能的電子光學系統...
超高分辨掃描電鏡是一種用於數學領域的分析儀器,於2005年2月1日啟用。技術指標 型號:Sirion 200 加速電壓:200V-30KV; 解析度:10KV,1.5nm;1KV,2.5nm;EDAX 能譜儀:133eV,Be-U。 熱場發射電子槍,配能譜儀,可用於...
點解析度:0.19nm; 線解析度:0.14nm; TEM解析度:0.20nm;放大倍率: 2000-1,500,000 X ;加速電壓:200kV ; 傾斜角:±25°;能譜儀:4Be ~ 92U。主要功能 1.高亮度場發射電子槍; 2.束斑尺寸小於0.5nm; 3.新式...
EDAX能譜儀 EDAX能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2005年6月1日啟用。技術指標 1. 技術參數 EDX部 解析度 144eV 可檢測元素 C~U。主要功能 微區成分分析。
與x射線光電子能譜相比,利用俄歇譜獲得化學信息比較困難。涉及價帶的俄歇躍迂,峰形與價帶態密度有關,可根據峰形獲取能帶結構信息,當然,在這方面俄歇譜不如紫外光電子譜。現代的掃描俄歇譜儀,一般都具有掃描電鏡的功能,可觀察樣品...
鎢燈絲掃描電鏡是一種用於物理學領域的分析儀器,於2015年12月31日啟用。技術指標 掃描電鏡解析度:高真空二次電子像小於3.0nm(30KV) 掃描電鏡放大倍數:5×~1000000×,連續可調 能譜儀解析度:MnKα峰的半高寬優於127eV; 能譜...
利用這一系統獲得的鋯石高清晰CL圖像及CL譜圖分析結果顯示其在鋯石等發光礦物的微區結構特徵研究和成因類型鑑別中有廣泛的套用前景。場發射掃描電子顯微鏡(簡稱場發射掃描電鏡)是研究微觀世界的重要工具之一,為人們在微納米尺度上研究物質...
10秒 加速電壓:5 / 10 /15 kV 三檔。主要功能 Phenom ProX 的能譜儀EDS是針對台式電鏡設計的,本著台式電鏡簡單易用,售後無憂的宗旨,PhenomProX的能譜儀EDS 系統完全嵌入在電鏡主機中,利用半導體製冷,無需額外冷卻系統。