表面化學分析—X射線光電子能譜—薄膜分析結果的報告

《表面化學分析—X射線光電子能譜—薄膜分析結果的報告》是2019年5月1日實施的一項中國國家標準。

基本介紹

• 中文名：表面化學分析—X射線光電子能譜—薄膜分析結果的報告
• 外文名：Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of results of thin-film analysis
• 標準號：GB/T 36401-2018
• 中國標準分類號：G04

編制進程

2018年6月7日，《表面化學分析—X射線光電子能譜—薄膜分析結果的報告》發布。

2019年5月1日，《表面化學分析—X射線光電子能譜—薄膜分析結果的報告》實施。

起草工作

主要起草單位：廈門荷清教育諮詢有限公司、清華大學化學系。

主要起草人：湯丁亮、李展平、劉芬、王水菊、岑丹霞、姚文清。