X射線能譜分析法(XPS)是瑞典的西格巴赫(Siegbahn)於1954年首先發現的,利用這種方法可以進行除氫以外的所有元素的定性、定量和化學狀態分析,因此在材料學中有著廣泛的套用。
基本介紹
- 中文名:X射線電子能譜法
- 發現時間:1954年
- 發現國家:瑞典
- 發現人:西格巴赫
X射線能譜分析法(XPS)是瑞典的西格巴赫(Siegbahn)於1954年首先發現的,利用這種方法可以進行除氫以外的所有元素的定性、定量和化學狀態分析,因此在材料學中有著廣泛的套用。
X射線能譜分析法(XPS)是瑞典的西格巴赫(Siegbahn)於1954年首先發現的,利用這種方法可以進行除氫以外的所有元素的定性、定量和化學狀態分析,因此在材料學中有著廣泛...
X射線光電子能譜技術(XPS)是電子材料與元器件顯微分析中的一種先進分析技術,而且是和俄歇電子能譜技術(AES)常常配合使用的分析技術。由於它可以比俄歇電子能譜技術...
中文名稱 X射線光電子能譜法 英文名稱 X-ray photoelectron spectroscopy,XPS 定義 以單色X射線為光源,測量並研究光電離過程發射出的光電子能量及相關特徵的方法...
《X射線光電子能譜分析方法通則(GB/T 19500-2004)》提出單位:全國微束分析標準化委員會。本標準歸口單位:全國微束分析標準化委員會。本標準負責起草單位:北京大學...
X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子...
X射線光電子能譜學(英文:X-ray photoelectron spectroscopy,簡稱XPS)XPS主要套用是測定電子的結合能來鑑定樣品表面的化學性質及組成的分析,其特點在光電子來自表面...
電子能譜方法是研究電子能量分布及其套用的方法。樣品受到某些射線的激發而發射出電子,這些電子隨著能量的不同在數量上呈現出一種統計分布,這種分布稱為能譜圖。電子...
電子能譜分析法是指採用單色光源(如X射線、紫外光)或電子束去照射樣品,使樣品中電子受到激發而發射出來,然後測量這些電子的產額(強度)對其能量的分布,從中獲得有...
X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子...
X-射線光電子能譜儀,是一種表面分析技術,主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線,如Al Ka =1486.6eV,與樣品表面相互作用,利用光電效應,...
以光作激發源的電子能譜分析方法。常用激發源有X射線和紫外光。 套用學科 機械工程(一級學科),分析儀器(二級學科),能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原...
根據光源的不同,光電子能譜可分為:1、紫外光電子能譜UPS(Ultroviolet Photoelectron Spectrometer);2、X射線光電子能譜XPS(X-Ray Photoelectron Spectrometer )3、...
當已知能量的X射線照射氣體或晶體固體時,由於光電效應,電子被打出外部;光電子能譜法,就是分析這種電子的動能,即光電子能譜而求出分子或晶體內電子結合能而鑑定...
按探針光子的能量,PES可以分為兩類:X射線光電子譜(XPS),能量範圍為100eV~10keV;紫外線電子譜(UPS)能量範圍為10eV~40eV。電子能譜儀俄歇電子能譜儀 電子束...
不同的化學環境,會使俄歇峰位置移動,峰形發生變化,所以俄歇譜包含著豐富的化學信息。與x射線光電子能譜相比,利用俄歇譜獲得化學信息比較困難。涉及價帶的俄歇躍迂...
原子序數大的元素,特徵X射線的發射幾率較大,原子序數小的元素,俄歇電子發射幾率較大,當原子序數為33時,兩種發射幾率大致相等。因此,俄歇電子能譜適用於輕元素的...
X射線光電子能譜學(英文:X-ray photoelectron spectroscopy,簡稱XPS)是一種用於測定材料中元素構成、實驗式,以及其中所含元素化學態和電子態的定量能譜技術。這種...