X射線螢光能譜儀

X射線螢光能譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2014年6月9日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線螢光能譜儀
• 產地：美國
• 學科領域：化學
• 啟用日期：2014年6月9日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線能譜儀

技術指標

1 分析元素範圍：Na11~Bk97 2 能量解析度(Mn-Ka)：優於140eV，在30,000cps下。嚴格依照ISO15632國際標準測量 3 可處理最大計數率:850,000CPS，最大輸出計數率＞350,000CPS， 4 採用多級毛細管X射線聚焦，最小束斑達30um。 5 同時具備30um 、1mm、2mm， 3種尺寸的束斑照射。方便不同樣品的需求並轉換方便 6 除可進行點的定性定量分析（包括自動多點及線性、矩陣的多點分析）外，還可以進行跨視域的線、面分布分析。最大線掃描長度近100 mm，最大面分布圖近100 mm x 80 mm。 7 樣品台行程：270 mm x 270 mm x 100 mm，承載5 kg. 8 樣品正立放置的樣品倉：直徑360 mm，深310 mm。可在常壓和低真空狀態下檢測。

主要功能

對材料進行無損檢測，主要檢測樣品中的元素成分種類及含量。同時具備微區分析的功能，可以在一定微觀尺度掃描元素的二維空間分布狀態。主要服務領域較廣，只要對檢測元素成分有要求的行業都可以進行服務，包括：無機材料測試，生物材料成分測試，金屬行業實效分析等測試。