X射線能譜儀是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2010年9月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:X射線能譜儀
- 產地:美國
- 學科領域:化學、材料科學
- 啟用日期:2010年9月1日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線能譜儀
X射線能譜儀是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2010年9月1日啟用。
X射線能譜儀是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2010年9月1日啟用。技術指標可測試4-95號元素,元素含量最低解析度0.1%.。1主要功能元素定性及定量分析。1...
能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析,配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。原理 各種元素具有自己的X射線特徵波長,特徵波長的大小則取決於能級躍遷過程中釋放出的特徵能量△E,能譜儀...
電子能量分析器是X射線光電子能譜儀的關鍵組成部分。它的作用是測量電子能量分布和不同能量電子的相對強度。電子能量分析器和電子倍增器系統完全由微型電子計算機控制。套用 概述 對固體樣品的元素成分進行定性、定量或半定量及價態分析。
X-射線光電子能譜儀,是一種表面分析技術,主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線,如Al Ka =1486.6eV,與樣品表面相互作用,利用光電效應,激發樣品表面發射光電子,利用能量分析器,測量光電子動能(K.E),...
X射線光電子能譜分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年3月31日啟用。技術指標 Ultimate energy resolution on Ag FWHM≤0.5 eV;XPS energy resolution on PET FWHM≤0.85eV。主要功能 主要用於對樣品表面進行元素種類測定...
X射線光電子譜儀是一種用於化學、機械工程、材料科學、能源科學技術領域的分析儀器,於2016年11月10日啟用。技術指標 1、能量掃描範圍:1~4000 eV 2、最佳能量解析度:≤0.45 eV(XPS),100 meV(UPS) 3、最佳空間解析度:≤3 ...
能量色散X射線譜是指在透射和掃描電鏡中使用X射線能譜儀分析試樣化學成分的方法及可得到的譜圖。簡介 X射線能譜儀用敏視窗一漂移鋰矽探測器,可探測從鈉至鈾的元素。改用薄視窗或無視窗,可探測元素擴展至輕元素。比例法 透射電鏡中...
掃描式電子顯微鏡-X射線能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2010年3月17日啟用。技術指標 硬體:倍率:15~100000,觀察範圍:9(H)×7(V)mm~1.3(H)×1(V)mm,解析度:8nm,觀察兩次電子圖像和反射電子...
X射線螢光能譜儀EDXRF X射線螢光能譜儀EDXRF是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年4月27日啟用。技術指標 ARL QUANTX。主要功能 元素分析。
6. 帶有紫外光電子能譜功能,當能量解析度為100meV時,靈敏度可達1,000,000cps。主要功能 X射線光電子能譜儀可提供富有特色的表面分析手段。主要可用來對材料表面10nm範圍內的元素及元素的化學態進行定性定量表征,並通過深度剖析的方法...
角分辨X射線光電子能譜儀是一種用於材料科學、化學、物理學、化學工程領域的分析儀器,於2016年12月29日啟用。技術指標 單色化Al靶、雙陽極Al/Mg靶、功率大於等於500W; 超高真空系統,樣品分析室真空優於5*10^-10 Torr; 能量分辨...
X射線光譜儀 X射線波譜儀和X射線能譜儀的總稱。用於獲得試樣X射線光譜,並測量譜線的位置和強度。
X射線光電子能譜及俄歇電子能譜聯用儀 X射線光電子能譜及俄歇電子能譜聯用儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年1月4日啟用。技術指標 能量範圍:0-5000ev,解析度0.45ev。主要功能 表面及界面分析,。
X射線能譜儀和EBSD X射線能譜儀和EBSD是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2008年1月1日啟用。技術指標 解析度:MnKa峰半高寬優於133eV;分析元素範圍:Be4-U92。主要功能 對材料進行元素成分分析和晶體結構、織構分析。
原位X射線光電子能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2012年11月26日啟用。技術指標 單色化Al KX射線源/He電漿光源,能量分析器能量解析度≤2meV.能量測量範圍: 0.5eV~1500eV,原位有機薄膜蒸鍍系統...
微聚焦X射線螢光能譜儀是一種用於考古學領域的分析儀器,於2016年7月29日啟用。技術指標 光學顯微鏡引導,尖銳X射線(微米到毫米),可實現微區元素分析和線掃描、面掃描分析。電壓,10to 50kV ,調整階躍值為1kV;電流10 to 1000μA...
如在室內使用X射線能譜儀,則可一次在螢光屏上顯示出全譜,對物質的主次成分一目了然,有其獨到之處。② 定量分析可分為兩類,即實驗校正法(或稱標準工作曲線法)和數學校正法。它們都是以分析元素的 X射線螢光(標識線)強度與...
近常壓x射線光電子能譜是一種用於物理學、化學領域的分析儀器,於2017年12月1日啟用。技術指標 EnviroESCA是一台能原位監測樣品表面性質動態變化的XPS儀器。其能量分析器的半徑為150mm,型號為SPECS PHOIBOS EP,採用單色化的鋁Kα作為...
X-螢光能譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2015年5月1日啟用。技術指標 懸浮顆粒物過濾器 符合 RoHS 及 WEEE 的分析 法醫及痕量分析 營養補充劑 磁性介質和半導體 土壤污染 過濾...
大視窗X射線能譜儀 大視窗X射線能譜儀是一種用於材料科學、考古學、礦山工程技術、航空、航天科學技術領域的分析儀器,於2012年3月31日啟用。技術指標 有窗:80mm視窗。主要功能 X射線能譜分析。
在與西格巴恩的合作下,美國惠普公司於1969年製造了世界上首台商業單色X射線光電子能譜儀。1981年西格巴恩獲得諾貝爾物理學獎,以表彰他將XPS發展為一個重要分析技術所作出的傑出貢獻。XPS的物理原理 XPS的原理為利用X射線照射樣品,激發...
3.X射線探測系統 國際領先的X射線探測系統,電製冷高解析度高計數率探測器:薄窗對Fe 5.9keV的X射線計數率為 1000CPS時的解析度為140eV。對輕元素Na、Mg、Al、Si、S等具有高靈敏度與解析度。4. 高級原裝能譜儀電子學系統 原裝...
由於對特定波長的X射線,其能量是已知的,對於每一個出射電子所具有的電子結合能可以由下面公式求出:其中是電子結合能,是所用的X射線的光子的能量,是被測量到的電子的動能,是能譜儀(而不是材料)的功函式。這一公式是基於...
儀器構造:主要由電子光學系統(鏡筒),X射線譜儀和信息記錄顯示系統組成。1.電子光學系統 為了提高X射線的信號強度,電子探針必須採用較掃描電鏡更高的入射電子束流,常用的加速電壓為10-30 KV,束斑直徑約為0.5μm。電子探針在鏡筒...