微聚焦X射線螢光能譜儀

微聚焦X射線螢光能譜儀是一種用於考古學領域的分析儀器，於2016年7月29日啟用。

基本介紹

• 中文名：微聚焦X射線螢光能譜儀
• 產地：美國
• 學科領域：考古學
• 啟用日期：2016年7月29日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線能譜儀

技術指標

光學顯微鏡引導，尖銳X射線（微米到毫米），可實現微區元素分析和線掃描、面掃描分析。電壓，10to 50kV ,調整階躍值為1kV；電流10 to 1000μA，調整階躍值在≥20kV時為5μA；樣品室直徑360mm，深310mm。

主要功能

適用於各類樣品成分分析。