電子探針能譜儀是一種用於地球科學、材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2009年8月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:電子探針能譜儀
- 產地:日本
- 學科領域:地球科學、材料科學、冶金工程技術
- 啟用日期:2009年8月1日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 電子探針
電子探針能譜儀是一種用於地球科學、材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2009年8月1日啟用。
電子探針能譜儀 電子探針能譜儀是一種用於地球科學、材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2009年8月1日啟用。技術指標 圖像解析度:6nm 定性定量分析元素範圍:B4 ~ V92。主要功能 微區域成分及圖像的相關信息研究。
電子探針-能譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2014年8月18日啟用。技術指標 激發源:電子束; 檢測信號:螢光X射線 檢測方式:X射線波長(波動性)分光晶體 分析深度:微米量級 空間解析度:~1微米 元素範圍:(4Be)5B~92U 檢測極限:~10ppm 照射樣品電流:10-5~10-9A 能量解析度:10eV左右。主要...
電子探針主要由電子光學系統(鏡筒),X射線譜儀和信息記錄顯示系統組成。電子探針和掃描電鏡在電子光學系統的構造基本相同,它們常常組合成單一的儀器。技術支持 電子光學系統 該系統為電子探針分析提供具有足夠高的入射能量,足夠大的束流和在樣品表面轟擊殿處束斑直徑近可能小的電子束,作為X射線的激發源。為此,一般...
電子探針儀鏡筒部分的構造大體上和掃描電子顯微鏡相同,只是在檢測器部分使用的是X射線譜儀、專門用來檢測X射線的特徵波長或特徵能量,以此來對微區的化學成分進行分析。因此,除專門的電子探針儀外,有相當一部分電子探針儀是作為附屬檔案安裝在掃描電鏡或透射電鏡鏡筒上,以滿足微區組織形貌、晶體結構及化學成分三位一體同...
電子探針能譜是來自樣品的X光子通過鈹視窗進入鋰漂移矽固態檢測器。而電子探針波譜是由分光晶體所分散的單一波長X射線被X射線檢測器接受,常用的檢測器一般是正比計數器。釋文 基本物理原理 運用電子探針發射具有10^3~10^4量級電子伏的電子微束,轟擊固體試樣表面的微區,激發其中的原子產生表微成分的物理信息(電子...
X射線譜儀是電子探針的信號檢測系統,分為:能量分散譜儀(EDS),簡稱能譜儀,用來測定X射線特徵能量。波長分散譜儀(WDS),簡稱波譜儀,用來測定特徵X射線波長。WDS組成:波譜儀主要由分光晶體和X射線檢測系統組成。原理:根據布拉格定律,從試樣中發出的特徵X射線,經過一定晶面間距的晶體分光,波長不同的特徵X...
在與西格巴恩的合作下,美國惠普公司於1969年製造了世界上首台商業單色X射線光電子能譜儀。1981年西格巴恩獲得諾貝爾物理學獎,以表彰他將XPS發展為一個重要分析技術所作出的傑出貢獻。現代XPS不僅可以給出材料表面元素組成及其化學態(原子價態及化學環境變化)和元素相對含量信息,還可以提供表面橫向與縱向深度分布信息...
第1章 掃描電子顯微鏡和電子探針的結構、原理及操作 實驗一 掃描電子顯微鏡的基本結構與工作原理介紹 實驗二 二次電子襯度原理與形貌分析 實驗三 背散射電子分析與襯度原理 實驗四 掃描電子顯微鏡斷口分析 實驗五 電子探針基本結構、工作原理及操作 第2章 掃描電子顯微鏡附屬設備結構、原理及操作 實驗一 能譜儀的基本...
9.3.1 二次電子成像襯度238 9.3.2 背散射電子成像襯度239 9.4 二次電子襯度像的套用240 9.5 背散射電子襯度像的套用242 9.6 掃描電鏡下的原位拉伸244 9.7 電子探針245 9.7.1 電子探針波譜儀245 9.7.2 電子探針能譜儀247 9.7.3 能譜儀與波譜儀的比較249 9.8 ...
純電製冷寬能鍺譜儀是一種用於核科學技術領域的分析儀器,於2017年11月28日啟用。技術指標 能量範圍:3keV-3MeV; 晶體面積:2000mm2;晶體厚度:20mm; 解析度: ≤[email protected];≤0.65keV@122keV; ≤2.00keV@1332keV;閾值調節:上下閾值可調;工作電源:220V交流電;可測試能區:5keV-3MeV;...
電子順磁共振波譜儀(ESR)氣質聯用(GC-MS)X光電子能譜儀(XPS/ESCA)X螢光光譜 XRF(能量色散型X螢光光譜儀)電子顯微鏡(掃描電鏡、透射電鏡、SEM、TEM)掃描探針顯微鏡/SPM(原子力顯微鏡)電子顯微鏡外圍設備(JFC,JEE,MK3DC活性消磁裝置)電子探針(EPMA)能譜儀(EDS)工業設備(JEBG,JST,EBG,RF)半導體相關設備...
電子顯微探針是指用聚焦很細的電子束照射要檢測的樣品表面,用X射線分光譜儀測量其產生的特徵X射線的波長和強度。由於電子束照射面積很小,因而相應的X射線特徵譜線將反映出該微小區域內的元素種類及其含量。利用特徵X射線波長來確定元素的叫做波譜儀(WDS),利用特徵X射線能量不同來展譜的就稱為能譜儀(EDS)。電...
採用JEOL-JSM6700掃描顯微鏡附帶的電子探針能譜儀(EDS)分析橫截面碳原子分布情況。在電流脈衝處理前、後,橫截面沿OA線段不同深度a、b(z=0.05、0.45mm)兩處碳原子相對含量分布如圖2所示。由圖2看出,剛淬火後的碳鋼試樣,碳原子在橫截面均勻分布;在電流脈衝處理後,表面區(z=0.05mm)碳原子發生了較嚴重...
離子探針分析儀的基本部件包括真空系統、離子源、一次離子聚焦光學系統、質譜儀、探測和圖像顯示系統、樣品室等。離子探針適用於超輕元素、微量和痕量元素的分析以及同位素的鑑定。廣泛套用於金屬材料的氧化、腐蝕、擴散、析出等問題的研究,特別是材料氫脆現象的研究,以及表面鍍層和滲層等的分析。俄歇電子能譜分析 俄歇...
對於大玻璃隕石樣品的實驗室研究,可使用顯微鏡、掃描電子顯微鏡等研究其結構特徵和化學性質;用電子探針、化學全分析、能譜儀、中子活化法、光譜儀等測定其常量和微量化學成分;用各種質譜儀、拉曼光譜儀探測其同位素組成;用裂變徑跡法測定其形成年代;用風洞裝置可在實驗室內模擬製造人工玻璃隕石,研究其各種生成條件和結構...
對於采自地球表面(深海沉積物、極地和格陵蘭冰蓋、古老地層、岩體、礦體)和就地研究中收採到的各種塵粒樣品,可利用各種超微量分析技術(如光學顯微鏡、X射線單晶照相、掃描電子顯微鏡、電子探針、離子探針、能譜儀等)研究其顯微特徵、主要化學元素、礦物組成、微結構特徵等,並與地球火山塵埃、工業塵埃進行區分;利用中子...
13.4.3背散射電子襯度原理 及其套用 229 13.4.4吸收電子的成像 233 13.5背散射電子衍射分析及其套用 233 13.5.1背散射電子衍射實驗條件 與工作原理 233 13.5.2背散射電子衍射取向技術的 套用 235 習題 238 第14章電子探針顯微分析 239 14.1電子探針儀的結構與工作原理 239 14.1.1波長分散譜儀 240 14...
實驗五十六 綜合熱分析 實驗五十七 X射線衍射儀多相物質的相分析 實驗五十八 電子探針能譜儀的構造及成分分析 實驗五十九 透射電鏡的構造、原理、操作及明暗場成像 實驗六十 掃描電鏡結構、原理及組織觀察 附錄 附錄一 熱電偶分度表 附錄二 各種篩子的規格 附錄三 測溫錐 附錄四 正交實驗表 參考文獻 ...
第3篇 成分和價鍵(電子)結構分析 第10章 成分和價鍵分析概論 10.1 原子中電子的分布和躍遷 10.2 各種特徵信號的產生機制 10.3 各種成分分析手段的比較 第11章 原子光譜分析 11.1 原子發射光譜分析 11.2 原子吸收光譜分析 第12章 x射線光譜分析 12.1 電子探針儀 12.2 能譜儀 12.3 波譜儀 12...
第10章 掃描電子顯微鏡 10.1 電子束與固體樣品的相互作用 10.2 掃描電鏡的成像原理及特點 10.3 掃描電鏡構造及性能 10.4 掃描電鏡的電子圖像及襯度 10.5 掃描電鏡在材料研究中的套用 小結 關鍵術語 習題 第11章 電子探針 11.1 電子探針的結構 11.2 波譜儀 11.3 能譜儀 11.4 電子探針分析方法和套用 ...
宏微觀應力與晶粒尺寸的測定、多晶體的織構分析等方面的套用;介紹了電子衍射的物理基礎、透射電子顯微鏡的結構與原理、衍射成像、運動學襯度理論、高分辨透射電子顯微技術、掃描電子顯微鏡的結構與原理、電子探針及其套用;介紹了俄歇電子能譜儀(AES)、X射線光電子能譜儀(XPS)、掃描隧道電鏡(STM)、低能電子衍射(...