場掃描電鏡是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2010年08月06日啟用。
基本介紹
- 中文名：場掃描電鏡
- 產地：日本
- 學科領域：地球科學
- 啟用日期：2010年08月06日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
放大25-650,000倍; 解析度1nm(15kV),2.2nm(1kV)。
主要功能
實現材料表面的高解析度圖像觀測和微區成分分析。
場掃描電鏡
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