場髮式掃描電鏡

場髮式掃描電鏡是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器，於2009年7月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：場髮式掃描電鏡
• 產地：美國
• 學科領域：冶金工程技術
• 啟用日期：2009年7月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 掃描電鏡

技術指標

1.0nm15kV放大12 – 90萬倍，加速電壓0.05~30 kV，配有In-lens SE detector； In-lens BSE detector；Everhart-Thornley S。

主要功能

不鏽鋼材料微觀組織、斷口形貌觀察以及顯微成分分析。