掃描探針顯微控制系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2019年3月22日啟用。
基本介紹
- 中文名：掃描探針顯微控制系統
- 產地：德國
- 學科領域：物理學
- 啟用日期：2019年3月22日
- 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
電壓範圍：+/-10V ,有效解析度：20~24bit,模擬信號頻寬DC至100KHZ,模擬轉換頻寬18bit，1MS/S。
主要功能
分離特定載波頻率信號。
掃描探針顯微控制系統
相關詞條
- 掃描探針顯微控制系統
掃描探針顯微控制系統 掃描探針顯微控制系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2019年3月22日啟用。技術指標 電壓範圍：+/-10V ,有效解析度：20~24bit,模擬信號頻寬DC至100KHZ,模擬轉換頻寬18bit，1MS/S。主要功能 分離特定載波頻率信號。
- 表面掃描探針顯微系統
表面掃描探針顯微系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2009年10月15日啟用。技術指標 SPM解析度：7*7矽表面原子分辨；溫度範圍：30K~1000K；背景真空：2*10^-10Torr；掃描範圍：5微米；偏壓：0~5V。主要功能 能夠提供全部的原子力顯微鏡和掃描隧道顯微鏡成像技術，提供材料和器件在原子水平上的表面特徵，給材料...
- 掃描探針顯微鏡控制器
掃描探針顯微鏡控制器是一種用於物理學領域的分析儀器，於2018年3月2日啟用。技術指標 電流輸入噪聲：5.8 pA(RMS)， 頻寬7 kHz； 輸入： /-10V，頻寬100 kHz，18bit，1MS/s； 輸出： /-10V，頻寬50 kHz，20bit，500 KS/s； 高壓輸出： /-150V，RMS噪聲小於49 �V (0-5 kHz)，輸出噪聲 3.0 mV...
- 分子束外延掃描探針顯微系統
分子束外延掃描探針顯微系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2018年12月7日啟用。技術指標 快速進樣室：材料為不鏽鋼304，腔體外徑為114mm，內壁電化學拋光處理 真空度：優於1.3�10-5Pa (焙燒前) 安放台：固定在磁力傳送桿上的安放台能夠安放4個樣品架和4個針尖架； 傳送桿：一根磁力傳送桿用於在快速進...
- 用於太赫茲近場顯微的掃描探針系統
用於太赫茲近場顯微的掃描探針系統是一種用於物理學領域的雷射器，於2019年6月12日啟用。技術指標 掃描頭（超高真空下）：解析度＜1 埃 X,Y; ＞0.1 埃 Z；掃描範圍：＞4 μm X,Y; ＞0.5 μm Z；熱漂移：Thermal Drift＜2 埃/mi。主要功能 掃描太赫茲信號的近場時域光譜。
- 低溫掃描探針顯微譜學系統
低溫掃描探針顯微譜學系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2019年9月24日啟用。技術指標 1.無液氦系統； 2.低震動水平。在樣品區域,峰峰震動幅度小於1.2nm； 3.樣品降溫時間小於10小時； 4.磁場強度最高到9T。主要功能 attoDRY2100本底溫度1.8K；全自動控溫；可配置9T磁體attoAFM-MFM低溫原子力...
- 掃描探針系統
掃描探針系統是一種用於物理學、化學領域的物理性能測試儀器，於2009年11月26日啟用。技術指標 真空度優於1e-10mbar；空間解析度：XY 主要功能 樣品表面形貌結構的原子級別分辨表征；高空間分辨的局域電子態測量；原子、分子操縱；自旋極化探針對氮原子仙台的探測和調控；強磁場下二維電子氣的郎道能級量子化測量；不同...
- 掃描探針顯微鏡
掃描探針顯微鏡中最為廣泛使用管狀壓電掃描器的垂直方向伸縮範圍比平面掃描範圍一般要小一個數量級，掃描時掃描器隨樣品表面起伏而伸縮，如果被測樣品表面的起伏超出了掃描器的伸縮範圍，則會導致系統無法正常甚至損壞探針。因此，掃描探針顯微鏡對樣品表面的粗糙度有較高的要求；由於系統是通過檢測探針對樣品進行掃描時的...
- 高速掃描探針顯微鏡中的控制技術研究
《高速掃描探針顯微鏡中的控制技術研究》是依託電子科技大學,由徐紅兵擔任醒目負責人的面上項目。項目摘要 掃描探針顯微鏡（SPM）在微電子學、微機械學、新型材料、電磁學、化學和生物醫學、納米技術、 納米製造和納米操作等領域具有廣泛的套用和巨大的套用前景。然而，SPM的工作速度已經成為SPM技術的瓶頸。當前的超高速...
- 快速掃描環境控制掃描探針顯微鏡
快速掃描環境控制掃描探針顯微鏡是一種用於物理學、生物學、材料科學領域的分析儀器，於2018年9月28日啟用。技術指標 通過密封單元實現氣體和液體灌注；可將樣本溫度控制在0-250°C；與刺激性化學物質高度兼容；接觸模式DART™脈衝頻率調製高次諧波成像模式（Dual AC™）；雙頻共振追蹤壓電模式（DART）；靜電力顯微...
- 原位電子輸運掃描探針顯微鏡系統
原位電子輸運掃描探針顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2015年12月21日啟用。技術指標 真空：1?10-10 mbar，最低工作溫度：5K，溫度穩定性：10mK，可變溫度範圍：5K-300K，液氦消耗量：小於0.1L/小時 (5K)，掃描範圍：1μm?1μm?0.1μm (5K)，熱漂移：0.2nm/小時，振動噪音：2 ...
- 低溫掃描探針顯微鏡系統
低溫掃描探針顯微鏡系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2017年1月22日啟用。技術指標 本台原位掃描隧道電子顯微鏡是一台多功能掃描探針顯微鏡，可用於各種外延生長低維半導體材料的表面形貌表征、IV測量、高分辨原子成像等，掃描精度可達0.1納米。主要功能 可用於各種微納材料的表面形貌表征、IV測量、高...
- 掃描隧道顯微鏡
電子學控制系統 掃描隧道顯微鏡是一個納米級的隨動系統，因此，電子學控制系統也是一個重要的部分。掃描隧道顯微鏡要用計算機控制步進電機的驅動，使探針逼近樣品，進入隧道區，而後要不斷採集隧道電流，在恆電流模式中還要將隧道電流與設定值相比較，再通過反饋系統控制探針的進與退，從而保持隧道電流的穩定。所有這些...
- 超高真空低溫掃描探針系統
超高真空低溫掃描探針系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器，於2019年10月12日啟用。技術指標 XPS能量解析度：Ag 3d5/2 峰能量解析度優於0.5eV。主要功能 超高真空原子力顯微鏡系統是一種國際領先的原子力顯微技術。通過對測量環境的嚴格控制（本底真空優於1*10-10mbar）以及對樣品及探針的冷卻（低於5K）可...
- 開爾文探針系統
（3）非零專利技術(Off-null,ON)——ON信號探測系統在高信號水平下工作，與基於零信號原理(null-based,LIA)的系統相比，不會收到噪聲的影響擁有高靈敏度；（4）高度調節專利技術——我們的儀器在測量和掃描時可以精確控制針尖的高度。因為功函式受樣品形貌的影響，針尖與樣品表面距離的調節意味著數據的高重現性且...
- 超高速掃描探針顯微鏡中的L1自適應控制理論研究
針對壓電陶瓷驅動器中的磁滯效應，研究了基於非對稱高斯函式的多模型線性參數變化模型辨識方法，並搭建了一套基於L1自適應控制理論的納米平台控制系統，實驗結果表明該平台比傳統的PID控制具有更高的控制精度；面向納米操縱，設計了一種大範圍高精度顯微鏡圖像拼接算法，套用結果表明該方法能有效降低掃描探針顯微鏡圖像中的...
- 掃描探針控制器
掃描探針控制器 掃描探針控制器是一種用於物理學領域的分析儀器，於2017年1月9日啟用。技術指標 頻寬5kHZ，FFT頻寬20MHz，模擬信號頻寬10MHz。主要功能 控制系統，用在掃描探針顯微鏡上。
- 掃描探針顯微加工
通過控制探針與樣品之間場的變化以及探針的移動，可在材料表面上實現可控的單個原子的三維移動、納米量級的刻蝕和沉積，並按照預先的設計直接操縱獲得或生長出具有特定構型和功能的納米結構（見掃描隧道顯微術）。掃描探針顯微加工會在高密度存儲、納米級電子器件、新型材料的組成和物種再造等方面有非常重要、廣泛的套用...
- 微區掃描測試系統
微區掃描測試系統是一種用於工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的科學儀器，於2015年12月7日啟用。技術指標 微區掃描探針平台,1.2掃描範圍(X、Y、Z)不低於100mm×100mm×100mm ； 1.3線性位移識別解析度不低於50nm； 1.4掃描解析度（X、Y、Z）分別都小於1nm 1.5最大掃速不低於10mm/s 3.SVET掃描振動...
- 掃描隧道顯微鏡控制系統
掃描隧道顯微鏡控制系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2010年8月3日啟用。技術指標 主要性能指標：掃描範圍：2μm×2μm ；解析度：橫向～0.1nm；縱向～0.01nm；真空度：～10-8 Pa；最大尺寸樣品：～Φ10mm；變溫範圍：25K～500K。主要功能 功能：二維成像、掃描隧道譜、自旋極化STM、原子分子操縱。套用...
- 智慧型型掃描探針顯微鏡
智慧型型掃描探針顯微鏡是一種用於物理學、材料科學、自然科學相關工程與技術領域的分析儀器，於2018年6月15日啟用。技術指標 MultiMode 8掃描探針顯微鏡系統技術參數： 擁有Tapping Mode、Contact Mode和Scanasyst Mode測試模式；橫向最大掃描範圍為125x125x5μm；z軸解析度為1nm；附帶有液下測試的配件；掃描器為J型掃...
- 掃描電化學微探針/掃描隧道顯微鏡聯用系統的研製
《掃描電化學微探針/掃描隧道顯微鏡聯用系統的研製》是依託廈門大學，由林昌健擔任項目負責人的專項基金項目。項目摘要 針對掃描隧道顯微鏡難以測試表面微區化學活性和化學微環境難題，提出研製掃描電化學微探針/掃描隧道顯微鏡聯用系統，可測量表面納米形貌結構、微區電化學活性及界面微化學肪常迪直礱嫘蚊步峁梗...
- 電化學掃描探針顯微鏡
電化學掃描探針顯微鏡是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器，於2009年12月10日啟用。技術指標 位系統解析度：Z: 100 nm + Piezo 5 nm；X, Y: 100 nm (ElProScan)；X, Y: 15 nm (ElProScan HR)。掃描範圍：50mm （全方位）。Z軸壓電材料參數： Lateral Guiding：1 nm; 解析度：1nm；重現性：室溫...
