X射線電子能譜是一種用於化學領域的分析儀器,於2005年10月25日啟用。
基本介紹
- 中文名:X射線電子能譜
- 產地:美國
- 學科領域:化學
- 啟用日期:2005年10月25日
- 所屬類別:分析儀器
X射線電子能譜是一種用於化學領域的分析儀器,於2005年10月25日啟用。
X射線光電子能譜學(英文:X-ray photoelectron spectroscopy,簡稱XPS)XPS主要套用是測定電子的結合能來鑑定樣品表面的化學性質及組成的分析,其特點在光電子來自表面10nm以內,僅帶出表面的化學信息,具有分析區域小、分析深度淺和不破壞樣品的特點,廣泛套用於金屬、無機材料、催化劑、聚合物、塗層材料礦石等各種材料...
X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子,可以測量光電子的能量,以光電子的動能為橫坐標,相對強度(脈衝/s)為縱坐標可做出光電子能譜圖,從而獲得待測物組成。定義及原理 X射線光電子能譜...
X射線能譜分析法(XPS)是瑞典的西格巴赫(Siegbahn)於1954年首先發現的,利用這種方法可以進行除氫以外的所有元素的定性、定量和化學狀態分析,因此在材料學中有著廣泛的套用。①定性分析元素周期表中的任何一種元素都有各自的原子結構,與其他元素不同,正是這種結構的不同,使得每種元素有自己的特徵能譜圖,所以測定...
X光電子能譜是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年6月16日啟用。技術指標 電子槍發射的電子最高能量≥1000 eV,能量解析度>0.5%。 微聚焦單色化XPS,高精度鑑別化學態; 全自動操作,快速準確地分析表面化學表征; 高靈敏度化學成像; 高解析度深度剖析 ;進行包括絕緣樣品在內各種樣品的小面積XPS分析;使用...
X射線光電子能譜法是2016年公布的化學名詞,是指在超高真空條件下,用電子能譜儀測量X射線光子輻照樣品表面時所發射的光電子及俄歇電子能量分布,以此測定周期表中除氫、氦以外所有元素及其化學態的一種非破壞性表面分析方法。。定義 超高真空條件下,用電子能譜儀測量X射線光子輻照樣品表面時所發射的光電子及俄歇...
Auger電子能譜法:屬於二次電子能譜法。多用於對固體,或凝聚態物質進行元素和價態的分析。圖譜簡單,儀器要求較高。常用來和X射線光電子能譜,螢光光譜,互補聯合使用。儀器組成 光電子能譜儀主要由6個部分組成:激發源、樣品電離室、電子能量分析器、電子檢測器、真空系統和數據處理系統等組成。激發源常用紫外輻射...
X射線光電子能譜因對化學分析最有用,因此被稱為化學分析用電子能譜(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis).系統組件 一台商業製造的XPS系統的主要組件包括:X射線源 超高真空不鏽鋼艙室及超高真空泵 電子收集透鏡 電子能量分析儀 μ合金磁場禁止 電子探測系統 適度真空的樣品艙室 樣品支架 樣品台 樣品台操控...
X射線電子能譜 X射線電子能譜是一種用於化學領域的分析儀器,於2005年10月25日啟用。技術指標 空間解析度(um):500um,能量解析度小於0.06,靈敏度:100000。主要功能 XPS,UPS。
X-射線光電子能譜儀,是一種表面分析技術,主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線,如Al Ka =1486.6eV,與樣品表面相互作用,利用光電效應,激發樣品表面發射光電子,利用能量分析器,測量光電子動能(K.E),根據B.E=hv-K.E-W.F,進而得到激發電子的結合能(B.E)。主要用途 XPS:...
不同靶元素的X射線標識譜具有相似的結構 , 隨著靶原子的原子序數 Z的增加 ,只是單調變化,而不是周期性變化。標識譜的這一特徵表明它是原子內層電子躍遷所產生的。當高速電子轟擊靶原子,將原子內層電子電離,內層產生一個電子的空位,外層電子躍遷到內層空位所發出的電磁輻射譜線就是標識譜。通常用K、L、M、N ...
x射線光電子譜是一種用於數學領域的分析儀器,於2008年12月1日啟用。技術指標 真空度5×10^(-8) PaX射線源射線能量:1486.6 eV (Al Kα line), 1253.6 eV (Mg Kα line);能量半高寬:0.85 eV (Al Kα line), 0.70 eV (Mg Kα line)。電子源電子能量:100 eV – 5000 eV;能量半高寬 :...
化學分析用電子能譜(ESCA;electron spectroscopy for chemical analysis),以X射線為激發光源照射分子或固體表面,激發原子中的內層電子,使其電離出去成光電子,也可激發外層價電子和能帶電子。各元素在電子能譜圖上有特徵峰,因而分析樣品發射出的光電子能譜可了解物質的組成及離子價態。這種手段稱為X射線電子能譜(...
一定能量的電子、X射線或紫外光作用於試樣表面,產生光電子。分析光電子的能量分布,得到光電子能譜。包括兩種能譜:X射線光電子能譜(XPS)和紫外光電子能譜(UPS)。前者以能量較高的X射線作激發源,可以把電子內層電子激發成自由電子,主要用於研究試樣表面組成和結構;後者以紫外光作激發源,只能激發原子的價...
電子能譜方法是研究電子能量分布及其套用的方法。樣品受到某些射線的激發而發射出電子,這些電子隨著能量的不同在數量上呈現出一種統計分布,這種分布稱為能譜圖。電子能譜圖是分析物質結構的有效手段。例如用單色X射線可激發出樣品的內殼層電子,其能量為Et=Ex-B。EX為X射線能量,B為該電子的結合能。由於假電子的...
X射線能譜是一種用於物理學、化學、材料科學、考古學領域的分析儀器。技術指標 與掃描電子顯微鏡配合使用,用於檢測Be以上的所有元素,最大輸入計數率可達500000。主要功能 進行材料表面微區成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、線、點分布分析。可用於高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體...
X射線光電子能譜以軟X射線(能量200~2 000 eV)為激發源,激發原子的內層電子;而紫外光光電子能譜以紫外光(能量10~45 eV)為激發源,激發固體的價帶電子。原子中的內層電子或價電子吸收能量足夠大的光子後,會離開原子成為光電子,根據測定發射出來的光電子的特徵能量,可定性地確定樣品表面上存在的元素,把...
X光電子能譜儀是一種用於能源科學技術領域的分析儀器,於2010年10月1日啟用。技術指標 最佳能量解析度<30 μm,最佳能量解析度<0.5 eV FWHM,C1s能量解析度<0.85 eV,離子源能量範圍:100 eV至3 keV,最大束流:4 μA,在烘烤完成24小時後,分析室最佳真空:5×10-9 mbar。主要功能 測量固體材料表面...
《X射線光電子能譜分析方法通則(GB/T 19500-2004)》提出單位:全國微束分析標準化委員會。本標準歸口單位:全國微束分析標準化委員會。本標準負責起草單位:北京大學化學與分子工程學院。本標準主要起草人:黃惠忠。本標準參加起草人:曹立禮、趙良仲、王亦曼、吳文輝、沈電洪、朱永法、劉芬、於廣華、吳正龍。前言 1...
X射線光電子能譜[學]X射線光電子能譜[學](X-ray photoelectron spectroscopy)是1993年公布的電子學名詞。公布時間 1993年,經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處 《電子學名詞》第一版。
X射線能譜分析(X-ray spectrometric analysis)是2015年全國科學技術名詞審定委員會公布的計量學名詞,出自《計量學名詞》第一版。定義 以高能X射線為試樣,將試樣原子內層軌道的電子激發出來,形成缺少內層電子的激發態離子。該離子極不穩定,其外層電子迅速向內層空穴躍遷,同時發射另一能量的X射線。此激發過程持續...
《表面化學分析 X射線光電子能譜分析指南》(標準號:GB/T 30704-2014)是2014年3月27日中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會發布的國家標準。編制進程 2014年3月27日,《表面化學分析 X射線光電子能譜分析指南》發布。2014年12月1日,《表面化學分析 X射線光電子能譜分析指南》實施...
近年來採用的同步輻射是更好的激發光源,它提供了寬範圍內能量可調的、高強度的、單色性良好的偏振光,填補了從真空紫外到軟X射線之間的空白區域,擴展了光電子譜的套用範圍。為了在實驗中測定光電子譜,用光子能量hv高於樣品功函式的光束,把樣品中的電子激發到真空中去,通過能量分析器測定電子的能量分布。對固體...
螢光,顧名思義就是在光的照射下發出的光。X射線螢光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線,它包含了被分析樣品化學組成的信息,通過對上述X射線螢光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線螢光分析儀。從原子物理學的知識我們知道,對每一種化學元素的原子來說,都有其特定的能級結構,其核外電子都...
X射線光電子能譜及俄歇電子能譜聯用儀 X射線光電子能譜及俄歇電子能譜聯用儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年1月4日啟用。技術指標 能量範圍:0-5000ev,解析度0.45ev。主要功能 表面及界面分析,。
X-射線光電子能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2014年3月18日啟用。技術指標 指標:(1) 分析室真空度優於5×10-9 mbar;(2) 能量解析度≤0.5eV (對Ag3d5/2峰的半高寬,乾淨的銀標樣);(3) 最佳空間解析度≤30 µm;(4) 微聚焦單色化(Al Kα)X射線源,其中:束斑面積從400 μm至30...
近常壓x射線光電子能譜是一種用於物理學、化學領域的分析儀器,於2017年12月1日啟用。技術指標 EnviroESCA是一台能原位監測樣品表面性質動態變化的XPS儀器。其能量分析器的半徑為150mm,型號為SPECS PHOIBOS EP,採用單色化的鋁Kα作為光源,型號為SPECS μ-FOCUS 600,光斑尺寸約3μm。主要功能 主要功能: 1、...
X-光電子能譜儀是一種用於物理學、化學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2011年12月28日啟用。技術指標 1、真空度:≤4X10-6Pa;2、能量範圍:0-1200電子伏特;3、X-ray類型:錐形雙陽極Mg或Al的Kа射線;4、最佳能量解析度:<0.8電子伏特;5、靈敏度:700,000CPS;6、分析器:低通或高通(杜邦型)...
X射線光電子能譜分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年3月31日啟用。技術指標 Ultimate energy resolution on Ag FWHM≤0.5 eV;XPS energy resolution on PET FWHM≤0.85eV。主要功能 主要用於對樣品表面進行元素種類測定、同種元素不同化學狀態定性及定量分析等方面的表征。XPS的工作原理是用光子能量...
中國電子簽章公安鑑定統一平台系統(ESCA)是由公安部物證鑑定中心與北京印信通電子印章安全認證中心共同採用數據大集中的管理模式統一建立的電子印章數據系統。ESCA也是化學分析電子能譜(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis),由於多用X射線作為發射源,所以通常又特指X射線光電子能譜(XPS:X-ray Photoelectron ...