X射線衍射儀201501是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年11月30日啟用。
基本介紹
- 中文名:X射線衍射儀201501
- 產地:荷蘭
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2015年11月30日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
X射線衍射儀201501是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年11月30日啟用。
X射線衍射儀201501是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年11月30日啟用。技術指標子探測器個數:>256個 像素大小:<55 μm。1主要功能非金屬材料微觀物相分析。1...
X射線衍射儀的英文名稱是X-ray Powder diffractometer簡寫為XPD或XRD。有時會把它叫做x射線多晶體衍射儀,英文名稱為X-ray polycrystalline diffractometer簡寫仍為XPD或XRD。原理 x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X...
X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體,如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線(如Cu的Kα輻射)射到一粒單晶體上會發生衍射,由對衍射線的分析...
X射線衍射光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2011年4月14日啟用。技術指標 初級準直器:3位以上程式控制, 適合重輕元素。 晶體選擇:≥5塊晶體, 必須含有2塊彎晶及人工多層膜晶體。 多道分析器:總道數≥500道 從光管陽極到...
衍射儀也稱X射線發生器、探測器X射線發生器,是進行X射線衍射實驗所不可缺少的、重要的設備之一,其優劣會嚴重影響X射線衍射數據的質量。進展 衍射儀的進展主要在三個方面:1、X射線發生器,2、探測器,3、衍射幾何與光路。x射線發生...
X衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2013年3月1日啟用。技術指標 角度重現性,±0.0001o;測角準確度,0.0025o;探測器最大技術率,>4×106 cps;99%線性範圍,>106 cps;最小背景,<0.2 cps;小角粒度測量範圍...
X射線衍射儀 基本構成 (1) 高穩定度X射線源 提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長, 調節陽極電壓可控制X射線源的強度。(2) 樣品及樣品位置取向的調整機構系統 樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體...
X射線衍射儀系統是一種用於化學、藥學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2012年12月15日啟用。技術指標 功率:3 kW 測角範圍(2θ):0.1 ~ 140°測角準確度Δ(2θc):0° 測角復現性(Sθd ):0....
台式X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2018年10月17日啟用。技術指標 PHA視窗寬度10-20div,Si粉末標準樣品的(220),(511),(620)面的衍射峰角度為Si(220)=47.263±0.1°,Si(511)=94.911±0.1°和Si(620)...
X射線晶體衍射分析儀是一種用於物理學、化學領域的分析儀器,於2011年8月31日啟用。技術指標 X射線晶體分析儀利用背射勞厄照相,底片安裝在晶體與射線源之間,而入射光束則在底片上的小孔通過,所記錄的為向後方向上的衍射光束,用衍射...
智慧型X射線衍射儀是一種用於數學領域的分析儀器,於2016年12月1日啟用。技術指標 最大功率:3kW;theta,2theta軸最小步距0.004o,theta/2theta角度範圍5o-140o。主要功能 此台衍射儀可進行樣品物相的定性和定量分析,點參測定、巨觀...
四圓X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2000年11月26日啟用。技術指標 晶胞參數a, b, c, α,β,γ?偏差 ,原子坐標,鍵長、鍵角,可靠因子Rf, 權因子Rw, GOF值。主要功能 該儀器為一種通過光量子計數探測器進行...
X射線雙微焦斑單晶衍射儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2015年3月18日啟用。技術指標 X射線發生器最大輸出功率:50W 解析度:Cu靶:0.837;Mo靶:0.80 X射線管保護:過電壓、過電流、冷卻水異常保護。主要...
高分辨X射線衍射儀是一款帶有PC機控制隨機微處理器的X射線發生器。技術參數 帶有PC機控制隨機微處理器的超穩定X射線發生器 高亮玻璃和陶瓷X射線管,線上焦斑和點焦斑間快速更換 管罩的X-Y和可旋轉平台 bel鏡平行束光學器件 樣品空間...
單晶X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2016年7月1日啟用。技術指標 使用PILATUS200K全新平面探測器;測量時,可以連續掃描,不需要關閉快門,直到數據採集完成;不像傳統的IP或CCD需要不停開閉快門;無暗電流,無噪音,可以長...
由於雙圖像版記錄方式,該衍射儀的最大數據收集與數據讀出可以同時進行,大大縮短樣品的整體測量實驗時間。儀器測量精度可達到0.5%Å(大分子)、0.005%Å(小分子),高於通常X射線衍射儀器的測量精度。附屬檔案信息 冷卻系統...
攜帶型X射線衍射儀是一種用於土木建築工程領域的物理性能測試儀器,於2018年11月28日啟用。技術指標 環境工作溫度:-20℃~35℃; 環境濕度:0~75%; 供電系統:100~240V,50/60 Hz; 記憶體容量:40GB; 激發源:低功率X射線陶瓷管...
組合式多功能X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2011年11月19日啟用。技術指標 1. X射線發生器功率為3 KW 2. 測角儀為水平測角儀 3. 測角儀最小步進為1/10000度 4. 測角儀配程式式可變狹縫 5. 高反射效率的...
X射線薄膜衍射儀 X射線薄膜衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2004年12月16日啟用。技術指標 角度範圍2Theta -5o~160o,角度解析度0.001o;薄膜樣品台。主要功能 分析材料的物質組成以及能級結構。
高解析度X射線衍射儀是一種用於數學領域的分析儀器,於2017年5月1日啟用。技術指標 直入射強度>10^7cps;2theta 和omega角的解析度>0.01°;G220單色器,選用Cu- Kα1特徵峰,波長0.15406nm;吸收片自動轉換;限寬狹縫手動切換...
粉晶X射線衍射儀是一種用於地球科學、材料科學、能源科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2012年09月11日啟用。技術指標 垂直廣角測角儀:掃描方式2θ/θ聯動方式、最小步進0.0001度,半徑185mm~285mm、設定重複性0...
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀,靶材及功率:Rh靶 4kW,可以對5B到92U進行快速定性、定量分析,元素的檢量範圍0.0001%~...
變溫X射線衍射儀是一種用於材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2012年12月12日啟用。技術指標 X射線發生器和機櫃: 最大輸出功率:3kW 最大管壓: 60kV,1mV/步, 機櫃同步數字顯示 最大管壓: 60mA,1mA/步,機櫃同步數字顯示...
島津X射線衍射儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2014年03月31日啟用。技術指標 運轉(1000°/min),精度角度(±0.0001°);。主要功能 精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量...
X射線雙晶衍射儀是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2002年12月1日啟用。技術指標 多種半導體材料和器件結構的測試分析,包括Ⅲ-Ⅴ,Ⅱ-Ⅳ族和Si系列材料,如砷化鎵和氮化鎵系的多量子阱結構的測試。主要功能 檢測。
針孔法得到的衍射花樣是衍射線的整個圓環,適於研究晶粒大小、晶體完整性、巨觀殘餘應力及多晶試樣中的擇優取向等。但這種方法只能記錄很少的幾個衍射環,不適於其它套用。衍射儀法 X射線衍射儀以布拉格實驗裝置為原型,融合了機械與電子...
X射線多晶粉末衍射儀是一種用於化學、材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2014年11月1日啟用。技術指標 1.最大輸出功率3kW,配有Cu靶和陶瓷X光管; 2.測角儀採用光學編碼器技術與步進馬達雙重定位,角度...
X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器。主要用於精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析。廣泛套用於冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域。
X射線高分辨衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2007年1月15日啟用。技術指標 2Th準確度:最強峰位角度值與標準卡片值(35.153)之差0.01度;GM測試:最強峰值強度≥2.3E09cps,Si111樣品半高寬0.028度;四晶單色器測試:...