高溫X衍射儀

高溫X衍射儀

高溫X衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2003年11月5日啟用。

基本介紹

  • 中文名:高溫X衍射儀
  • 產地:荷蘭
  • 學科領域:材料科學
  • 啟用日期:2003年11月5日
  • 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
技術指標,主要功能,

技術指標

1、陶瓷X光管:最大功率:2.2kW(Cu靶)2、測角儀重現性:0.0001度3、2θ測量範圍:0--167o,測量精度:2θ±0.01o3、可控最小步進:0.0001度4、PIXcel1D超能陣列探測器:最大背景<0.2cps5、高溫附屬檔案(HTK1200):室溫--1200℃原位衍射分析。

主要功能

X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器。主要用於精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析。廣泛套用於冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域。

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