X射線高分辨衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2007年1月15日啟用。
基本介紹
- 中文名：X射線高分辨衍射儀
- 產地：德國
- 學科領域：材料科學
- 啟用日期：2007年1月15日
- 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
技術指標,主要功能,
技術指標
2Th準確度：最強峰位角度值與標準卡片值(35.153)之差0.01度；GM測試：最強峰值強度≥2.3E09cps,Si111樣品半高寬0.028度；四晶單色器測試：半高寬≤0.008度。
主要功能
能完成粉末樣品、固體樣品的高靈敏度測試，微量相分析，薄膜材料的反射、掠射、高分辨衍射，織構以及高分子樣品的取向等測量。
