多晶X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2008年7月1日啟用。
X射線衍射儀的英文名稱是X-ray Powder diffractometer簡寫為XPD或XRD。有時會把它叫做x射線多晶體衍射儀，英文名稱為X-ray polycrystalline diffractometer簡寫仍為XPD或XRD。原理 x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X...
X射線粉末多晶衍射儀是一種用於化學、生物學、農學、林學領域的分析儀器，於2009年12月30日啟用。技術指標 角度重現性0.0001度,ztheta0.5-120度。主要功能 1.物相定性和定量分析. 2.結晶度測定. 3.晶粒大小測定. 4.單晶取向和多...
多晶X射線粉末衍射儀 多晶X射線粉末衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2014年7月1日啟用。技術指標 研究多晶樣品的成分和結構。主要功能 X射線衍射法研究多晶樣品的成分和結構。
全自動多晶X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2016年2月24日啟用。技術指標 光源部分：X射線發生器部分；最大輸出功率：9kW；額定電壓：20~45kV；額定電流：10~200mA；電流電壓穩定度：優於±0.01% (外電壓波動10%)時...
JJG629-1989多晶X射線衍射儀 《JJG629-1989多晶X射線衍射儀》是1989年中國計量出版社出版的圖書。本規程適用於新製造的、使用中和修理後的多晶X射線衍射儀的檢定。
《多晶X射線衍射技術與套用》是2014年化學工業出版社出版的圖書，作者是江超華。內容簡介 《多晶X射線衍射技術與套用》是北京大學江超華教授50餘年多晶X射線衍射技術與儀器研發和套用經驗的總結，此書簡明實用，對化學、化工、材料、礦冶...
多晶X射線衍射方法包括照相法與衍射儀法。照相法 照相法以光源發出的特徵X射線照射多晶樣品，並用底片記錄衍射花樣。根據樣品與底片的相對位置，照相法可以分為德拜法、聚焦法和針孔法，其中德拜法套用最為普遍。德拜法以一束準直的...
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀，靶材及功率：Rh靶 4kW，可以對5B到92U進行快速定性、定量分析，元素的檢量範圍0.0001%~...
主要的X射線分析儀器有單晶X射線衍射儀(主要用於晶體結構的確定)和多晶X射線衍射儀(又稱粉末X衍射儀，主要套用在物相分析、晶體結構分析、組構分析)。物相分析是X射線衍射在金屬中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把對材料測...
小角散射X射線衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於1994年1月10日啟用。技術指標 轉靶12 kW；Cu靶 Ka1，波長0.15405 nm；角度解析度0.01°。主要功能 基於多晶粉末X射線衍射測定材料的晶體結構。
X射線高分辨衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2007年1月15日啟用。技術指標 2Th準確度：最強峰位角度值與標準卡片值(35.153)之差0.01度；GM測試：最強峰值強度≥2.3E09cps,Si111樣品半高寬0.028度；四晶單色器測試：...
第2章 X射線物理基礎 2.1 X射線的產生及性質 2.2 X射線衍射原理 2.3 倒易矢量、倒易點陣及反射球 2.4 粉晶X射線衍射 第3章 X射線衍射方法 3.1 粉晶衍射儀法 3.2 其他X射線衍射儀 第4章 X射線衍射數據 4.1 衍射峰位...
高解析度X射線衍射儀是一種用於數學領域的分析儀器，於2017年5月1日啟用。技術指標 直入射強度＞10^7cps；2theta 和omega角的解析度＞0.01°；G220單色器，選用Cu- Kα1特徵峰，波長0.15406nm；吸收片自動轉換；限寬狹縫手動切換...
粉末X-射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2003年12月1日啟用。技術指標 功率2/3kW; 穩定度≤0.005%，最快定位速度：1000˚/min，角度重現性：0.0001˚，最小步長：0.002˚(θ)，閃爍計數器線性範圍：2 x 10^6...
6.1多晶X射線衍射儀 61 6.1.1X射線發生器 61 6.1.2測角儀的光路系統 62 6.1.3X射線強度測量記錄系統 64 6.1.4衍射儀控制及衍射數據採集 分析系統 64 6.2多晶X射線衍射儀實驗技術 65 6.2.1具體實驗條件的選定 65 6...
