粉末X-射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2003年12月1日啟用。
X-射線粉沫衍射儀 X-射線粉沫衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2003年5月20日啟用。技術指標 低溫最低至30K，高溫最高到1300K。主要功能 測衍射譜，樣品物相分析。
粉末X-射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2003年12月1日啟用。技術指標 功率2/3kW; 穩定度≤0.005%，最快定位速度：1000˚/min，角度重現性：0.0001˚，最小步長：0.002˚(θ)，閃爍計數器線性範圍：2 x 10^6...
X射線粉末多晶衍射儀是一種用於化學、生物學、農學、林學領域的分析儀器，於2009年12月30日啟用。技術指標 角度重現性0.0001度,ztheta0.5-120度。主要功能 1.物相定性和定量分析. 2.結晶度測定. 3.晶粒大小測定. 4.單晶取向和多...
1、X射線發生器的穩定度：這不僅關係到所測衍射強度的準確可靠，而且關係到所有部件的準確和穩定。現代粉末衍射儀的光源穩定性一般在外電源變化10%以內，輸出變化0.01%以內。2、X射線管的功率：對於密封式X射線管，Cu靶一般為2kw，Ag...
多晶X射線粉末衍射儀 多晶X射線粉末衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2014年7月1日啟用。技術指標 研究多晶樣品的成分和結構。主要功能 X射線衍射法研究多晶樣品的成分和結構。
台式X射線粉晶衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2015年12月18日啟用。技術指標 X射線源輸出功率：≥600W 最大電壓：40kV 最大電流 15mA；超高頻電壓發生器, 高壓穩定度：0.005% (外電壓變化10%)；固定靶靶材及功率：Cu靶。
全自動智慧型型X射線粉末衍射儀 全自動智慧型型X射線粉末衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2017年12月20日啟用。技術指標 SmartLab3KW。主要功能 衍射分析。
變溫全自動組合粉末多晶X-射線衍射儀是一種用於材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2014年6月1日啟用。技術指標 該設備是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀，它採用了理學獨創的CBO交叉光學系統，一台儀器可以進行從普通粉末樣品到...
高功率X射線粉末衍射儀的主要用途： 多晶衍射（粉末衍射）：定性分析、定量分析、晶粒大小、點陣參數、全譜結構最佳化擬合、巨觀殘餘應力。薄膜分析等。右衍射儀可獲得高強度的Kα1衍射譜，有利於分析低對稱晶系。數據處理具有先進的峰分離...
閃爍計數器， 線性範圍：0-2*106CPS，資料庫含11.7萬張標準圖譜。主要功能 樣品通常為小塊金屬或粉末，又稱粉末X射線衍射儀。利用多晶樣品對X射線的衍射效應，記錄和分析X射線衍射圖譜，可以對樣品進行物相定性和定量分析。
多功能粉末X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2017年3月7日啟用。技術指標 測角準確度：≤0.01°重複性：≤0.001° 一維探測器通道256，二維探測器通道385。主要功能 晶體物質物相，半定量，定量分析，晶粒大小，結晶度...
高解析度粉末X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2009年11月30日啟用。技術指標 Cu靶，功率3kW，θ-θ測角儀，LynxEye陣列探測器。主要功能 可進行材料的物相鑑定和定量分析，並對材料的晶體結構、晶胞參數、晶粒大小等進行...
粉末衍射儀 粉末衍射儀是一種用於藥學領域的分析儀器，於2005年11月1日啟用。技術指標 Cu靶，18KW。主要功能 獲得樣品粉末X射線衍射圖譜。
原位X射線粉末衍射儀 原位X射線粉末衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年7月1日啟用。技術指標 粉末測試，結構精修，高低溫、原位結構剖析。主要功能 高低溫條件對電池性能影響 |充放電過程對電池微觀結構的改變。
高分辨高精度X射線粉末衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2017年5月12日啟用。技術指標 Ka1單色器，配毛細管旋轉樣品台； 高溫樣品台：室溫至1200oC； 解析度：0.001，最大電壓60kV，最大電流60mA，功率3000W； 衍射樣品台，...
超低溫X射線粉末與薄膜衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的計量儀器，於2016年6月7日啟用。技術指標 低溫xrd測量至5K,歐拉樣品台,可以進行三方向xrd測量,電流40mA,電壓40kV,採用步進馬達驅動和光學編碼器技術,掃描方式θ/θ或θ/2...
XD2型自動X射線粉末衍射儀 XD2型自動X射線粉末衍射儀是由布萊格科技（北京）有限公司完成的科技成果，登記於2003年3月19日。成果信息 成果完成人 江超華；梁學明；羅英信
X衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2013年3月1日啟用。技術指標 角度重現性，±0.0001o；測角準確度，0.0025o；探測器最大技術率，＞4×106 cps；99％線性範圍，＞106 cps；最小背景，＜0.2 cps；小角粒度測量範圍...
X-衍射儀 X-衍射儀是一種用於物理學、地球科學領域的分析儀器，於2005年10月8日啟用。技術指標 sc探測器能量解析度E＜55%；儀器角度解析度D＜40% ；綜合穩定性＜±1.5%。主要功能 單礦物及礦物結構測定。
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀，靶材及功率：Rh靶 4kW，可以對5B到92U進行快速定性、定量分析，元素的檢量範圍0.0001%~...
X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發生衍射，由對衍射線的分析...
主要的X射線分析儀器有單晶X射線衍射儀(主要用於晶體結構的確定)和多晶X射線衍射儀(又稱粉末X衍射儀，主要套用在物相分析、晶體結構分析、組構分析)。物相分析是X射線衍射在金屬中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把對材料測...
X-射線衍射儀是一種用於物理學領域的分析儀器，於2014年5月13日啟用。技術指標 1最大輸出功率：3kW 2最大電壓：60kV 3最大電流：60mA 4金屬陶瓷X光管，Cu靶 2.2kW 5 光學編碼盤，直接光學定位。主要功能 精確地對樣品進行物相...
