X-射線粉沫衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2003年5月20日啟用。
基本介紹
- 中文名：X-射線粉沫衍射儀
- 產地：荷蘭
- 學科領域：物理學、材料科學
- 啟用日期：2003年5月20日
- 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
技術指標,主要功能,
技術指標
低溫最低至30K，高溫最高到1300K。
主要功能
測衍射譜，樣品物相分析。
X-射線粉沫衍射儀
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