粉末衍射儀是一種用於藥學領域的分析儀器,於2005年11月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:粉末衍射儀
- 產地:日本
- 學科領域:藥學
- 啟用日期:2005年11月1日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
粉末衍射儀是一種用於藥學領域的分析儀器,於2005年11月1日啟用。
粉末衍射儀是一種用於藥學領域的分析儀器,於2005年11月1日啟用。技術指標Cu靶,18KW。1主要功能獲得樣品粉末X射線衍射圖譜。1...
粉末X-射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2003年12月1日啟用。技術指標 功率2/3kW; 穩定度≤0.005%,最快定位速度:1000˚/min,角度重現性:0.0001˚,最小步長:0.002˚(θ),閃爍計數器線性範圍:2 x 10^6...
高功率X射線粉末衍射儀的主要用途: 多晶衍射(粉末衍射):定性分析、定量分析、晶粒大小、點陣參數、全譜結構最佳化擬合、巨觀殘餘應力。薄膜分析等。右衍射儀可獲得高強度的Kα1衍射譜,有利於分析低對稱晶系。數據處理具有先進的峰分離...
高分辨中子粉末衍射儀是一種用於物理學、材料科學、能源科學技術、核科學技術領域的核儀器,於2017年12月29日啟用。技術指標 最佳解析度: △d /d≈2×10-3 樣品處中子通量: >106n/cm2∙s 單色器: 垂直聚焦Ge(115) 波長: 1....
衍射光分析儀是一種用於物理學、測繪科學技術、材料科學領域的分析儀器,於2008年02月28日啟用。技術指標 德國布魯克bruker D4粉末X射線衍射儀,是專為電解鋁生產過程控制分子比提供分析數據,它可以大大減少樣品的循環次數。採用銅鈀光管...
射線粉末衍射儀相似:由核反應堆孔道中引出的熱中子束通過準直器後入射到單色器上,經單晶反射獲得單一波長的中子再入射到樣品上,然後由繞樣品旋轉布置的中子探測器(一般為陣列式He探測器或大面積二維位置靈敏探測器)在各個角度測定衍射...
1、X射線發生器的穩定度:這不僅關係到所測衍射強度的準確可靠,而且關係到所有部件的準確和穩定。現代粉末衍射儀的光源穩定性一般在外電源變化10%以內,輸出變化0.01%以內。2、X射線管的功率:對於密封式X射線管,Cu靶一般為2kw,Ag...
2kw,角度精度萬分之一度,高分辨光路解析度12秒(角度)。測量光路實行模組化,變換方便.對粉末樣品,單晶和薄膜樣品都可以進行測試.可進行相分析、搖擺曲線、φ掃描測量;織構和應力測量;薄膜厚度和反射率測定;高分辨衍射和Q掃描等.。
X衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2013年3月1日啟用。技術指標 角度重現性,±0.0001o;測角準確度,0.0025o;探測器最大技術率,>4×106 cps;99%線性範圍,>106 cps;最小背景,<0.2 cps;小角粒度測量範圍...
XRD衍射儀是一種用於化學工程、化學、中醫學與中藥學、生物學領域的分析儀器。技術指標 X射線發生器,最大功率3KW,最大管電壓60HV,電流80mA,垂直型測角儀,掃描範圍:-6°~163°(2θ), -180°~180°(θ),掃描速度:0.1~50...
小角散射X射線衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於1994年1月10日啟用。技術指標 轉靶12 kW;Cu靶 Ka1,波長0.15405 nm;角度解析度0.01°。主要功能 基於多晶粉末X射線衍射測定材料的晶體結構。
粉末樣品的物相定性與定量分析;計算結晶化度、晶粒大小;確定晶系、晶粒大小與畸變;Rietveld 定量分析;薄膜樣品分析(薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度、電荷密度);In-Plane衍射;小角散射與納米材料粒徑分布;微區樣品的分析。
高溫原位X射線衍射儀是一種用於數學領域的分析儀器,於2018年03月23日啟用。技術指標 1.樣品形狀:塊體、粉末、薄膜、液體;2.變溫範圍:室溫-2000℃(空氣,惰性氣氛,還原性氣氛),升溫速率:0.1-60℃;3.2θ範圍:-10 – ...
台式X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2018年10月17日啟用。技術指標 PHA視窗寬度10-20div,Si粉末標準樣品的(220),(511),(620)面的衍射峰角度為Si(220)=47.263±0.1°,Si(511)=94.911±0.1°和Si(620)...
X-衍射儀 X-衍射儀是一種用於物理學、地球科學領域的分析儀器,於2005年10月8日啟用。技術指標 sc探測器能量解析度E<55%;儀器角度解析度D<40% ;綜合穩定性<±1.5%。主要功能 單礦物及礦物結構測定。
組合式多功能X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2011年11月19日啟用。技術指標 1. X射線發生器功率為3 KW 2. 測角儀為水平測角儀 3. 測角儀最小步進為1/10000度 4. 測角儀配程式式可變狹縫 5. 高反射效率的...
四圓單晶X射線衍射儀是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2007年10月1日啟用。技術指標 小角度衍射,角度範圍:0-130度。主要功能 X 射線多晶衍射是利用不同構象和晶型的粉末固體對X射線有其特殊的 衍射方向和強度, 得到特徵...
索拉狹縫限制垂直方向上光的發散。儀器介紹 APD 2000多功能衍射儀Ital structures 公司數字式粉末衍射系統,該儀器 設計精巧、結構緊湊、數據精確、使用簡便、功能強大,廣泛套用於科研和工業 系統。
高溫X射線衍射儀 高溫X射線衍射儀是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器,於2013年05月30日啟用。技術指標 高溫固體探測0-2000℃ θ/θ分析方式。主要功能 進行固體、粉末的定性以及物質結構分析。
最強峰值強度≥2.3E09cps,Si111樣品半高寬0.028度;四晶單色器測試:半高寬≤0.008度。主要功能 能完成粉末樣品、固體樣品的高靈敏度測試,微量相分析,薄膜材料的反射、掠射、高分辨衍射,織構以及高分子樣品的取向等測量。
X射線粉末衍射(X-ray powder diffraction)是2019年全國科學技術名詞審定委員會公布的冶金學名詞,出自《冶金學名詞》第二版。定義 利用X射線在多晶體粉末中的衍射行為來研究多晶體結構的分析方法。出處 《冶金學名詞》第二版 ...
第12章 X射線多晶體衍射的套用實例 12.1 冶金和機械工業 12.2 地球和採礦工業 12.3 生物和醫藥工業 12.4 能源 12.5 陶瓷和建材工業 12.6 功能材料、玻璃 12.7 複合材料物相鑑定 12.8 粉末晶體結構分析 12.9 晶粒度及晶格...
中子粉末衍射儀基於中子彈性相干散射研究多晶材料的靜態結構。研究方向主要為材料的晶體結構和磁結構,辨認較輕原子和近鄰原子的占位和占位數,測定磁性原子磁矩的大小和方向,晶態、非晶態結構及其相變的快速測定等。中子四圓衍射譜儀 中子...
5 典型產品的粉末XRD 圖譜分析以IRT. 1 為前驅物,裝入大瓷舟中,在650 ℃熱分解30 min ,得棕色氧化鎢,以此為典型產品. 典型產品的組成為: w (NH+4 ) = 0. 45 % , O/ W= 2. 728.粉末衍射儀操作條件為Cu Kα1/ ...