高溫原位X射線衍射儀

高溫原位X射線衍射儀是一種用於數學領域的分析儀器，於2018年03月23日啟用。

基本介紹

• 中文名：高溫原位X射線衍射儀
• 產地：德國
• 學科領域：數學
• 啟用日期：2018年03月23日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡

技術指標

1.樣品形狀：塊體、粉末、薄膜、液體；2.變溫範圍：室溫-2000℃（空氣，惰性氣氛，還原性氣氛），升溫速率：0.1-60℃；3.2θ範圍：-10 – 90 °；4.精度：0.001°。

主要功能

晶體材料物相定性和定量分析、衍射譜的指標化和點陣參數的測定、晶粒尺寸及點陣畸變的測定、粉末衍射譜擬合修正晶體結構、織構與殘餘應力的測定、結晶度測定、薄膜物相的測定以及原位高溫結構變化的動態分析等。